Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
VAŠINA, P. ZEDNÍČEK, T. ŠIKULA, J. PAVELKA, J.
Originální název
Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies are investigated.
Klíčová slova
noise, reliability
Autoři
VAŠINA, P.; ZEDNÍČEK, T.; ŠIKULA, J.; PAVELKA, J.
Vydáno
1. 1. 2002
ISSN
0026-2714
Periodikum
Microelectronics Reliability
Ročník
42
Číslo
6
Stát
Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Strany od
849
Strany do
854
Strany počet
BibTex
@article{BUT43781, author="Petr {Vašina} and Tomáš {Zedníček} and Josef {Šikula} and Jan {Pavelka}", title="Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies", journal="Microelectronics Reliability", year="2002", volume="42", number="6", pages="6", issn="0026-2714" }