Detail publikace

A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers

ZMEŠKAL, O. SALYK, O. VESELÝ, M. DZIK, P.

Originální název

A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.

Klíčová slova

refractive index, thickness of layers, interefernce microscopy, optical microscopy

Autoři

ZMEŠKAL, O.; SALYK, O.; VESELÝ, M.; DZIK, P.

Rok RIV

2008

Vydáno

9. 9. 2008

Nakladatel

Asociace českých chemických společností

Místo

Brno

ISSN

1213-7103

Periodikum

Chemické listy

Ročník

102

Číslo

S

Stát

Česká republika

Strany od

s1033

Strany do

s1036

Strany počet

4