Detail publikace

Temperature Stabilization of Semiconductor Lasers for Direct Measurement of Index of Refraction of Air

MATOUŠEK, V., ČÍP, O.

Originální název

Temperature Stabilization of Semiconductor Lasers for Direct Measurement of Index of Refraction of Air

Typ

konferenční sborník (ne článek)

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Laser interferometers are even more precise distance measurement devices with resolution in nanometer or sub-nanometer region.

Klíčová slova

Temperature stabilization laser index of refraction of air

Autoři

MATOUŠEK, V., ČÍP, O.

Vydáno

1. 1. 2003

Místo

BRNO

ISBN

80-214-2379-X

Kniha

STUDENT EEICT 2003 9th CONFERENCE

Číslo edice

první

Strany od

480

Strany do

484

Strany počet

5

BibTex

@proceedings{BUT64062,
  editor="Vít {Matoušek} and Ondřej {Číp}",
  title="Temperature Stabilization of Semiconductor Lasers for Direct Measurement of Index of Refraction of Air",
  year="2003",
  number="první",
  pages="5",
  address="BRNO",
  isbn="80-214-2379-X"
}