Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
ELHADIDY, H. ŠIK, O. DĚDIČ, V. ŠIKULA, J. FRANC, J.
Originální název
NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Polarization phenomena in a metal-semiconductor-metal (M-S-M) structure of two metallic Schottky contacts fabricated to CdTe radiation detectors were studied. We evaluate the distribution of the electric field along the biased M-S-M structure by Pockels measurements. The noise measurements of studied CdTe detectors show that the dominant noise is 1/f noise type.
Klíčová slova
CdTe detector, Polarization, Pockels measurements, Noise
Autoři
ELHADIDY, H.; ŠIK, O.; DĚDIČ, V.; ŠIKULA, J.; FRANC, J.
Rok RIV
2012
Vydáno
28. 6. 2012
Nakladatel
Vysoké učení technické v Brně
Místo
Brno, Antonínská 548/1
ISBN
978-80-214-4539-0
Kniha
Proc. of EDS IMAPS CS 2012. Brno
Edice
1
Číslo edice
17
Strany od
314
Strany do
312
Strany počet
7
BibTex
@inproceedings{BUT92920, author="Hassan {Elhadidy} and Ondřej {Šik} and Václav {Dědič} and Josef {Šikula} and Jan {Franc}", title="NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS", booktitle="Proc. of EDS IMAPS CS 2012. Brno", year="2012", series="1", number="17", pages="314--312", publisher="Vysoké učení technické v Brně", address="Brno, Antonínská 548/1", isbn="978-80-214-4539-0" }