Detail publikace

NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS

ELHADIDY, H. ŠIK, O. DĚDIČ, V. ŠIKULA, J. FRANC, J.

Originální název

NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Polarization phenomena in a metal-semiconductor-metal (M-S-M) structure of two metallic Schottky contacts fabricated to CdTe radiation detectors were studied. We evaluate the distribution of the electric field along the biased M-S-M structure by Pockels measurements. The noise measurements of studied CdTe detectors show that the dominant noise is 1/f noise type.

Klíčová slova

CdTe detector, Polarization, Pockels measurements, Noise

Autoři

ELHADIDY, H.; ŠIK, O.; DĚDIČ, V.; ŠIKULA, J.; FRANC, J.

Rok RIV

2012

Vydáno

28. 6. 2012

Nakladatel

Vysoké učení technické v Brně

Místo

Brno, Antonínská 548/1

ISBN

978-80-214-4539-0

Kniha

Proc. of EDS IMAPS CS 2012. Brno

Edice

1

Číslo edice

17

Strany od

314

Strany do

312

Strany počet

7

BibTex

@inproceedings{BUT92920,
  author="Hassan {Elhadidy} and Ondřej {Šik} and Václav {Dědič} and Josef {Šikula} and Jan {Franc}",
  title="NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS",
  booktitle="Proc. of EDS IMAPS CS 2012. Brno",
  year="2012",
  series="1",
  number="17",
  pages="314--312",
  publisher="Vysoké učení technické v Brně",
  address="Brno, Antonínská 548/1",
  isbn="978-80-214-4539-0"
}