Detail publikace

Implementace perspektivních technologií do pedagogického procesu v oblasti diagnostiky

ROZSÍVALOVÁ, Z. FRK, M. KAZELLE, J.

Originální název

Implementace perspektivních technologií do pedagogického procesu v oblasti diagnostiky

Anglický název

Implementation of prospective technologies in the educational process in the field of diagnostics

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

V příspěvku je popsána modernizace laboratorních cvičení v předmětech Diagnostika a zkušebnictví a Diagnostické metody v elektrotechnice, které Ústav elektrotechnologie FEKT VUT v Brně garantuje v bakalářském a magisterském studijním programu Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika (EEKR). Inovace spočívá ve vytvoření nových laboratorních úloh zaměřených na teoretický popis a praktické využití ultrazvukové defektoskopie, optické mikroskopie a mikroskopie atomárních sil a kalibračních metod odporových a infračervených teploměrů. Úlohy zahrnují také oblast statistického zpracování dat při posuzování kvality materiálů a elektronických součástek, včetně výpočtu nejistot měření příslušných veličin.

Anglický abstrakt

The article is focused on the modernization of laboratory exercises in the Diagnostics and Testing and Diagnostic Methods in Electroengineering which are guaranteed by Department of Electrical and Electronic Technology in bachelor and master study programmes Electrical, Electronic, Communication and Control Technology (EECC). The innovation lies in the creation of new laboratory tasks focused on the theoretical description and practical using of ultrasonic defectoscopy, optical microscopy and atomic force microscopy and calibration methods of resistive and infrared thermometers. The laboratory tasks also include the area of statistical processing of data for assessing the quality of materials and electronic components including the calculation of the measurement uncertainty of the physical quantities.

Klíčová slova

ultrazvuková defektoskopie, mikroskopie atomárních sil, optická mikroskopie, kalibrace teploměrů, SMD součástky

Klíčová slova v angličtině

ultrasonic defectoscopy, atomic force microscopy, optical microscopy, thermomether calibration, SMD components

Autoři

ROZSÍVALOVÁ, Z.; FRK, M.; KAZELLE, J.

Rok RIV

2012

Vydáno

30. 5. 2012

Nakladatel

STU v Bratislave

ISBN

978-80-227-3712-8

Kniha

Elektrotechnológia 2012

Strany od

63

Strany do

67

Strany počet

5

BibTex

@inproceedings{BUT93267,
  author="Zdenka {Rozsívalová} and Martin {Frk} and Jiří {Kazelle}",
  title="Implementace perspektivních technologií do pedagogického procesu v oblasti diagnostiky",
  booktitle="Elektrotechnológia 2012",
  year="2012",
  pages="63--67",
  publisher="STU v Bratislave",
  isbn="978-80-227-3712-8"
}