Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Vědci a doktorandi z CEITEC VUT založili první spin-off firmu, která pod názvem NenoVision nabízí doplněk k elektronovým mikroskopům. S využitím principu mikroskopie atomárních sil rozšiřuje možnosti elektronového mikroskopu o 3D zobrazování s hloubkovou analýzou reliéfu měřeného vzorku.
Doktorští studenti prof. Tomáše Šikoly potřebovali zobrazit své nanovzorky ve 3D pohledu a na relativně velké ploše, zhruba centimetru čtverečním. K takovému úkolu již však pouze elektronový mikroskop nestačí a využívá se i tzv. mikroskopie atomárních sil, která právě 3D zobrazování umožňuje velmi dobře. Dostupná zařízení jim z mnoha důvodů nevyhovovala nebo byla cenově nedostupná. Nová metoda současně umožňuje i tzv. korelativní zobrazování, které umožňuje sloučit a analyzovat obrázky pořízené dvěma různými metodami.
„V principu se jedná o krabičku o velikosti 15x9x5 centimetrů, která se dvěma šrouby přimontuje na manipulátor elektronového mikroskopu a posílá do počítače data o povrchu vzorku tak, aby byl vidět povrch i v 3D rozměru. Pro řadu aplikací je to nezbytně nutné,“ popisuje svůj první produkt Jan Neuman, jeden ze zakladatelů spin-off firmy NenoVision.
„Lze říci, že tím umožníme výrazně lépe studovat a vyvíjet mikro a nano zařízení. Ta dnes nalezneme takřka v každé elektronice, telefonech či počítačích,“ vysvětluje praktický dopad zařízení Radimír Vrba, ředitel CEITEC VUT. Nově založená spin-off firma sídlí v podnikatelském inkubátoru INMEC provozovaném Jihomoravským inovačním centrem, kde úspěšně prošla programem JIC ENTER.
Odpovědnost: Mgr. Marta Vaňková