Navštivte jedinečnou přednášku Dr. Yoshi Ohno, prezidenta CIE a čestného člena NIST na téma Color Quality and Measurement for LED Lighting. Přednáška se uskuteční 24. dubna 2019 ve 13:00 v aule prof. Braunera na FEKT. Přednáška bude simultánně tlumočena. Nenechejte si ujít jedinečnou přenášku světově uznávaného odborníka, který za svůj život získal několik ocenění od CIE (Mezinárodní komise pro osvětlování), amerického ministerstva obchodu, amerického ministerstva energetiky a dalších institucí.

Yoshi Ohno je autorem více než stovky publikací z výzkumných oblastí zahrnující fotometrii, kolorimetrii, spektroradiometrii a v poslední době i oblast hodnocení barevného podání. V letech 2003 až 2012 působil jako vedoucí skupiny v divizi NIST (Národní úřad standardů a technologií) Optical Technology Division a od roku 2010 je čestným členem NIST. Je rovněž členem IES (Illuminating Engineering Society of North America) a je znám jako primární autor norem IES LM-79 (Testovací metoda pro produkty s polovodičovým osvětlením), LM-85 (Měření výkonových LED), ANSI C78.377 (Specifikace chromatičnosti pro produkty s polovodičovým osvětlením).

V mezinárodním měřítku působí přes 20 let v Mezinárodní komisi pro osvětlování, kde předsedal v letech 2007 až 2011 Divizi 2 (Fyzikální měření světla a záření), v období 2011 až 2015 pak zastával funkci technického viceprezidenta a od roku 2015 je prezidentem této komise.