ME 480

Czech

Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible

Faculty of Mechanical Engineering
- responsible department (1.1.1989 - not assigned)
Faculty of Mechanical Engineering
- beneficiary (1.3.2001 - 31.12.2002)

BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6, s. 178 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

KALOUSEK, R., ŠKODA, D., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 89 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

ŠIKOLA, T. Nanotechnologie - vize či skutečnost?. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 70 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

KALOUSEK, R.; SCHMID, M.; HAMMERSCHMID, A.; LUNDGREN, E.; VARGA, P. Slowing down adatom diffusion by an adsorbate: Co on Pt(111) with and without preadsorbed CO. PHYSICAL REVIEW B, 2003, vol. 68, no. 23, p. 233401 ( p.)ISSN: 1098-0121.
Detail

ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, vol. 47, no. 6-7, p. 210 ( p.)ISSN: 0447-6411.
Detail

LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., ŠKODA, D., MATĚJKA, F., KALOUSEK, R. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. Surface and Interface Analysis, 2002, vol. 34, no. 1, p. 352 ( p.)ISSN: 0142-2421.
Detail

GAUTHIER, Y.; BUŠ, V.; SCHMID, M.; PADOVANI, S.; LUNDGREN, E.; VARGA, P.; KRESSE, G.; REDINGER, J. Adsorption sites and ligand effect for CO on an alloy surface: a direct view. Physical Review Letters, 2001, vol. 87, no. 3, p. 036103 ( p.)ISSN: 0031-9007.
Detail

KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Vibrational Analysis of the Cantilever in noncontact Scanning Force Microscopy. Surface and Interface Analysis, 2000, vol. 30, no. 1, p. 292 ( p.)ISSN: 0142-2421.
Detail

KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM - simulace oscilací raménka. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 43 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J. Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 38 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 33 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 133 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

KALOUSEK, R., ČERVENKA, J., BARTOŠÍK, M., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(100) by local anodic oxidation. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. p. 226 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. AFM – zařízení pro mikroskopii povrchů a nanotechnologie. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. s. 47 ( s.)
Detail

ŠIKOLA, T. Nanotechnologie – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. s. 29 ( s.)
Detail

VAIS, J., ŽENÍŠEK, J., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J., DITTRICHOVÁ, L., SPOUSTA, J., BOCHNÍČEK, Z., ŠIKOLA, T. Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. p. 226 ( p.)
Detail

KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Noncontact Atomic Force Microscopy - Simulated Images of Real Surface Structures. In ECASIA '03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. p. 80 ( p.)
Detail

KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. p. 0 ( p.)
Detail

ŠKODA, D., KALOUSEK, R., BARTOŠÍK, M., MATUROVÁ, K., ŠIKOLA, T. Fabrication of Nanostructures by AFM. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. p. 243 ( p.)
Detail

LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 320 ( p.)
Detail

Responsibility: Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc.