Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 01.03.2001 — 31.12.2002
Funding resources
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - KONTAKT
- whole funder (2001-03-01 - 2002-12-31)
Mark
ME 480
Default language
Czech
People responsible
Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible
Units
Faculty of Mechanical Engineering- beneficiary (2001-03-01 - 2002-12-31)
Results
KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., ŠKODA, D., BUŠ, V. Noncontact Scanning Force Microscopy – a Computer Simulation of Resolution Limits. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 285 ( p.)Detail
BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6, s. 178 ( s.)ISSN: 0447-6441.Detail
KALOUSEK, R., KONVICKA, C., SCHMID, M. UHV STM - a Technique for Studies of Atomic Surface Structures. In Juniormat '01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. p. 78 ( p.)Detail
LOPOUR, F., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. In Juniormat '01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 82 ( s.)Detail
ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. p. 81 ( p.)Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D., MATĚJKA, F. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. In 2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách. Praha: FÚ AVČR, 2000. s. 5 ( s.)Detail
MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J. Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM. In 2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách. Praha: FÚ AVČR, 2000. s. 65 ( s.)Detail
KALOUSEK, R., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM- simulace oscilací raménka. In 2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách. Praha: FÚ AVČR, 2000. s. 6 ( s.)Detail
BUŠ, V. Ab-inicio výpočty elektronových struktur povrchů – posouzení adsorbce CO na povrchové slitině PtCo (111). In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000. s. 41 ( s.)Detail
LOPOUR, F., KALOUSEK, R. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000. s. 177 ( s.)Detail
PRŮŠA, S. Monitorování povrchů pevných vzorků a ultratenkých vrstev pomocí ToF spektroskopie. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000. s. 263 ( s.)Detail
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 486 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.Detail
KALOUSEK, R., SCHMID, M. A study of metallic surfaces by UHV STM. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 369 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. AFM - a Tool for a Study of Surfaces, Micro- and Nanostructures. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 394 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.Detail
JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 364 ( s.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., BUŠ, V., ŠKODA, D. Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 369 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
PÁTÍK, K.; ŠIKOLA, T.; LOPOUR, F. Design of Piezoelectric Manipulators for an Application in SPM instruments. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 400 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 404 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Fabrication of nanostructures by AFM local Oxidation. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 394 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 320 ( p.)Detail
ŠKODA, D., KALOUSEK, R., BARTOŠÍK, M., MATUROVÁ, K., ŠIKOLA, T. Fabrication of Nanostructures by AFM. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. p. 243 ( p.)Detail
KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. p. 0 ( p.)Detail
KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Noncontact Atomic Force Microscopy - Simulated Images of Real Surface Structures. In ECASIA '03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. p. 80 ( p.)Detail
VAIS, J., ŽENÍŠEK, J., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J., DITTRICHOVÁ, L., SPOUSTA, J., BOCHNÍČEK, Z., ŠIKOLA, T. Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. p. 226 ( p.)Detail
ŠIKOLA, T. Nanotechnologie – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. s. 29 ( s.)Detail
KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. AFM – zařízení pro mikroskopii povrchů a nanotechnologie. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. s. 47 ( s.)Detail
KALOUSEK, R., ČERVENKA, J., BARTOŠÍK, M., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(100) by local anodic oxidation. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. p. 226 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.Detail
LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 133 ( s.)ISSN: 0447-6441.Detail
ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 33 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J. Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 38 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM - simulace oscilací raménka. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 43 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Vibrational Analysis of the Cantilever in noncontact Scanning Force Microscopy. Surface and Interface Analysis, 2000, vol. 30, no. 1, p. 292 ( p.)ISSN: 0142-2421.Detail
GAUTHIER, Y.; BUŠ, V.; SCHMID, M.; PADOVANI, S.; LUNDGREN, E.; VARGA, P.; KRESSE, G.; REDINGER, J. Adsorption sites and ligand effect for CO on an alloy surface: a direct view. Physical Review Letters, 2001, vol. 87, no. 3, p. 036103 ( p.)ISSN: 0031-9007.Detail
LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., ŠKODA, D., MATĚJKA, F., KALOUSEK, R. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. Surface and Interface Analysis, 2002, vol. 34, no. 1, p. 352 ( p.)ISSN: 0142-2421.Detail
ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, vol. 47, no. 6-7, p. 210 ( p.)ISSN: 0447-6411.Detail
KALOUSEK, R.; SCHMID, M.; HAMMERSCHMID, A.; LUNDGREN, E.; VARGA, P. Slowing down adatom diffusion by an adsorbate: Co on Pt(111) with and without preadsorbed CO. PHYSICAL REVIEW B, 2003, vol. 68, no. 23, p. 233401 ( p.)ISSN: 1098-0121.Detail
ŠIKOLA, T. Nanotechnologie - vize či skutečnost?. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 70 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
KALOUSEK, R., ŠKODA, D., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 89 ( s.)ISSN: 0009-0700.Detail
ŠIKOLA, T. Surfaces and Interfaces - Presence and Perspectives. In Juniormat '01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. p. 74 ( p.)Detail