Project detail

Semiconductors - local optical and electrical properties

Duration: 31.8.2002 — 31.12.2004

Funding resources

Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - KONTAKT

On the project

Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti: lokální topografie, lokální spektroskopie, měření fluorescence, konstrukce objemového STM a SNOM mikroskopu, výroba optických hrotů.

Description in English
Semiconductors - local optical and electric properties: local topography, local spectroscopy and local fluorescence measurements, construction of bulky STM and SNOM, manufacture of optical fibre probes.

Keywords
polovodiče, lokální fotoluminiscence, lokální fotoproud, proces stárnutí, diagnostika

Key words in English
semiconductor, local photoluminescence, local photocurrent, aging process

Mark

ME 544

Default language

Czech

People responsible

Tománek Pavel, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - fellow researcher

Units

Department of Physics
- responsible department (1.1.1989 - not assigned)
Department of Physics
- beneficiary (8.3.2002 - 31.12.2004)

Results

GRMELA, L., TOMÁNEK, P.: Near-field Nano Optics and Related Techniques (NFO-8). Seoul (05.09.2004)
Detail

Slovak University of Technology: APCOM 2004. Častá-Píla (16.06.2004)
Detail

Institute of Physics of Microstructures RAS: Scanning Probe Microscopy 2004. Nizhny Novgorod (02.05.2004)
Detail

SPIE Europe: Photonics Europe. Strasbourg (26.04.2004)
Detail

CO-MAT-TECH 2003. Trnava (16.10.2003)
Detail

ACSIN7 - Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, Nanostructures. Nara (16.11.2003)
Detail

Measurement 2003. Smolenice (15.06.2003)
Detail

Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod (02.03.2003)
Detail

TOMÁNEK, P.: Optics in computing. St. Petersburg (15.10.2002)
Detail

TOMÁNEK, P., TOMÁNEK, P.: Photonics Prague 2002 - 4th Int.Conf. on Photonics, Devices and Systems. Praha (26.05.2002)
Detail

HRABOVSKÝ, M., SENDERÁKOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Photonics, Devices, and Systems II. Photonics, Devices, and Systems II. Neuveden. Bellingham, WA, USA: 2003. p. 1 ( p.)ISBN: 0-8194-4837-0.
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´03. Brno: 2003. p. 51 ( p.)ISBN: 80-214-2486-9.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Correlation optics 6. Neuveden. Chernivtsy: 2003. p. 56 ( p.)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near field photocurrent spectroscopy of crystalline GaAs solar cells. CO-MAt-TECH 2004. Proceedings of the Abstracts. Trnava: Vydavatelstvo STU Bratislava, 2004. p. 207 ( p.)ISBN: 80-227-2121-5.
Detail

TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Near-field local optical spectrosccopy of nanostructured semiconductors. Nano ´ 04. Brno: VUTIUM Brno, 2004. p. 40 ( p.)ISBN: 80-214-2672-1.
Detail

TOMÁNEK, P. Metamateriály - materiály se záporným indexem lomu. 4.seminář o metodách blízkého pole. Praha: Spektroskopická společnost Jana Marca Marci, 2004. s. 28 ( s.)
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., GRMELA, L. Near-field optical measurement of carrier recombination in InAs/GaAs quantum dots. Material structure & micromechanics of fracture. Brno: Vutium, Brno, 2004. p. 115 ( p.)ISBN: 80-214-26732-X.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544). 2004. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2004. s. 1-19.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti - výzkumná zpráva. neuvedeno. Brno: MŠMT, 2002.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2003. s. 1 ( s.)
Detail