Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - KONTAKT

- part funder (2002-08-31 - 2004-12-31)

ME 544

Czech

Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - fellow researcher
Tománek Pavel, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible

Department of Physics
- beneficiary (2002-03-08 - 2004-12-31)

TOMÁNEK, P., GRMELA, L., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Projekt "Fyzikální základy optoelektroniky". In Nové trendy ve fyzice. sv.2. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, 2001. s. 536-539. ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Optoelectronics and optical fiber sensors in engineering education. In CO-MAT-TECH 2001. sv.2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. p. 390 ( p.)ISBN: 80-227-1591-3.
Detail

HRABOVSKÝ, M., SENDERÁKOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Photonics, Devices, and Systems II. Photonics, Devices, and Systems II. Neuveden. Bellingham, WA, USA: 2003. p. 1 ( p.)ISBN: 0-8194-4837-0.
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´03. Brno: 2003. p. 51 ( p.)ISBN: 80-214-2486-9.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Correlation optics 6. Neuveden. Chernivtsy: 2003. p. 56 ( p.)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near field photocurrent spectroscopy of crystalline GaAs solar cells. CO-MAt-TECH 2004. Proceedings of the Abstracts. Trnava: Vydavatelstvo STU Bratislava, 2004. p. 207 ( p.)ISBN: 80-227-2121-5.
Detail

TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Near-field local optical spectrosccopy of nanostructured semiconductors. Nano ´ 04. Brno: VUTIUM Brno, 2004. p. 40 ( p.)ISBN: 80-214-2672-1.
Detail

TOMÁNEK, P. Metamateriály - materiály se záporným indexem lomu. 4.seminář o metodách blízkého pole. Praha: Spektroskopická společnost Jana Marca Marci, 2004. s. 28 ( s.)
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., GRMELA, L. Near-field optical measurement of carrier recombination in InAs/GaAs quantum dots. Material structure & micromechanics of fracture. Brno: Vutium, Brno, 2004. p. 115 ( p.)ISBN: 80-214-26732-X.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544). 2004. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2004. s. 1-19.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti - výzkumná zpráva. neuvedeno. Brno: MŠMT, 2002.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., UHDEOVÁ, N. Nanometric applications of the Scanning Near-field optical microscopy. In Proceedings of the National Conference NANO´02. Brno: Česká společnost pro nové materiály a technologie, 2003. p. 166 ( p.)ISBN: 80-7329-027-8.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., KAWATA, S. Near-field optical imaging of carrier dynamics in silicon with superresolution. In Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod, Russia: Institute for Physics of microstructures RAS, 2003. p. 63-65.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Singular Spectral Index Method for the Analysis of the Rib Waveguide. In Measurement 2003. Bratislava: 2003. p. 395 ( p.)ISBN: 80-967402-6-1.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., GRMELA, L. Near field scanning optical microscopy as an imaging tool for carrier process in silicon. In Advanced engineering design. Praha: Process Engineering Publisher, 2003. p. F1.3 (F1.7 p.)ISBN: 80-86059-35-9.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Local optical imaging of electronic characteristics in semiconductors. In Noise and fluctuation ICNF 2003. Brno: 2003. p. 445 ( p.)ISBN: 80-239-1005-1.
Detail

DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices. In The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference. Neuveden. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2003. p. 287 ( p.)ISBN: 80-2142452-4.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P. Optika a mikroskopie v blízkém poli. In 3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických. Neuveden. Brno: Vojenská akademie Brno, 2003. s. 20 ( s.)ISBN: 80-85960-51-6.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. 1/f Noise in InAs/GaAs Quantum Dots and InGaAs/GaAs/InGaP Quantum Well LEDs and in quantum well laser diodes. In CO-MAT-TECH 2003, 11th International scientific conference. Bratislava: MtF STU Trnava, 2003. p. 1063 ( p.)ISBN: 80-277-1949-8.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. In Proceedings of International conference Nano´03. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, 2003. p. 201 ( p.)ISBN: 80-214-2527-X.
Detail

MAJZNER, J., TOMÁNEK, P., GRMELA, L., BENEŠOVÁ, M. Critical role of near-field optics in the characterization of electro-optical devices. In Radioelektronika 2003 Conference proceedings. Brno: MJ Servis Ltd., 2003. p. 280 ( p.)ISBN: 80-214-2388-8.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Comparison of low-frequency noise and near-field optical spectroscopy of GaAs/AlGaAs single-quantum-well laser diodes. In Atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures. Nara, Japan: Japan society of applied physics, 2003. p. 431 ( p.)
Detail

OTEVŘELOVÁ, D.; TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Local characterization of optical waveguide structure using Scanning near-field optical microscopy. In Applied physics on condensed matter APCOM – 2004. Bratislava: Slovak Technical University in Bratislava, 2004. p. 183-186. ISBN: 80-227-2073-9.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Facet Reflectivity of Waveguides Buried at Realistic Depth. In Student EEICT 2004. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., 2004. p. 665 ( p.)ISBN: 80-214-2636-5.
Detail

AHMED, M.; TOMÁNEK, P. Luminance-voltage and efficiency-voltage characterization of ZnS:Mn2+ alternating-current thin-film electroluminescent device. In Proceedings EDS' 04. Brno: Vysoké učeni technické v Brně, 2004. p. 76-79. ISBN: 80-214-2701-9.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P. Designing nanostructures for new functional materials. In CO-MAT-TECH 2004, Proceeding of 12. International Scientific Conference. Trnava: MtF STU Bratislava, 2004. p. 91 ( p.)ISBN: 80-227-2117-4.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Near field photocurrent spectroscopy of crystalline GaAs solar cells. In CO-MAT-TECH 2004, Proceeding of 12. International Scientific Conference. Trnava: Vydavatelstvo STU Bratislava, 2004. p. 1365-1370. ISBN: 80-227-2117-4.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., BRÜSTLOVÁ, J. Direct evidence of negative refraction at media with negative epsilon and mju. In New trends in Physics. Brno: 2004. p. 266 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P. Goos-Hänchen shifts at the interface between left- and right-handed materials. In New trends in Physics. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc. Ondráčkova 105, Brno, 2004. p. 210 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

KALA, J. SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY. In Workshop NDT 2004 NON-DESTRUCTIVE TESTING. Brno: Brno university of Technology, 2004. p. 75 ( p.)ISBN: 80-7204-371-4.
Detail

AHMED, M. Photo-induced charge and hole drift length measurement of evaporated ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices. In Elektortechnika a informatika 2004. Plzeň: Fakulta elektrotechnická, Zapadočeská univezita v Plzni, 2004. p. 63-66. ISBN: 80-7043-300-0.
Detail

AHMED, M. Subtreshold voltage-induced transferred charge aging analysis of alternating-current thin-film electroluminescent device. In New trends in Physics NTF 2004. Brno: Ing. Zdenek Novotny, CSc., 2004. p. 196-199. ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

AHMED, M. Photo-induced charge and luminescence measurements in ZnS:Mn2+ ACTFEL. In New trends in Physics NTF 2004. Brno: Ing. Zdenek Novotny, CSc., 2004. p. 200-203. ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Analysis Of Buried Waveguides For Mode Spot Converters. In Nové trendy ve fyzice NTF 2004. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., Ondráčkova 105, Brno, 2004. p. 254 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Šíření optického signálu v 3D strukturách v těsné blízkosti rozhraní polovodič-vzduch. In Workshop NDT 2004 NON-DESTRUCTIVE TESTING. Brno: Brno University of Technology, 2004. s. 126 ( s.)ISBN: 80-7204-371-4.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P. Scanning near-field optical microscopy and its application in semiconductor investigation. In Scanning probe microscopy 2004. Nizhny Novgorod: Institute for Physics of Microsctructures RAS, 2004. p. 108-111.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; KAWATA, S. Near-field optical diagnostics of carrier dynamics in semiconductor with superresolution. Physics of low-dimensional structures, 2003, vol. 2003, no. 3/4, p. 131-137. ISSN: 0204-3467.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Proceedings of SPIE, 2004, no. 5477, p. 131-137. ISSN: 0277-786X.
Detail

BENEŠOVÁ, M.; TOMÁNEK, P.; LIŠKA, M. Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 49, č. 9, s. 242-244. ISSN: 0447-6441.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; DOBIS, P. Scanning near-field optical microscopy in semiconductor research. Physics of low-dimensional structures, 2004, vol. 2004, no. 1/2, p. 47-53. ISSN: 0204-3467.
Detail

LÉTAL, P., TOMÁNEK, P. Lokální optické vláknové sondy pro mikroskop pracující v blízkém poli. 2004, roč. 49, č. 6, s. 163 ( s.)ISSN: 0447-6411.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Local optical phenomena in InAs/GaAs heterostructures with quantum dots and artificial molecules. Journal of the Korean Physical Society, 2005, vol. 47, no. 96, p. S162 (S165 p.)ISSN: 0374-4884.
Detail

TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BENEŠOVÁ, M.; GRMELA, L. Near-field study of carrier dynamics in InAs/GaAs quantum dots grown on InGaAs layers. Materials Science Forum, 2005, vol. 482, no. 1, p. 151-155. ISSN: 0255-5476.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2003. s. 1 ( s.)
Detail

Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod (02.03.2003)
Detail

TOMÁNEK, P.: Optics in computing. St. Petersburg (15.10.2002)
Detail

TOMÁNEK, P., TOMÁNEK, P.: Photonics Prague 2002 - 4th Int.Conf. on Photonics, Devices and Systems. Praha (26.05.2002)
Detail

Slovak University of Technology: APCOM 2004. Častá-Píla (16.06.2004)
Detail

GRMELA, L., TOMÁNEK, P.: Near-field Nano Optics and Related Techniques (NFO-8). Seoul (05.09.2004)
Detail

SPIE Europe: Photonics Europe. Strasbourg (26.04.2004)
Detail

CO-MAT-TECH 2003. Trnava (16.10.2003)
Detail

ACSIN7 - Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, Nanostructures. Nara (16.11.2003)
Detail

Measurement 2003. Smolenice (15.06.2003)
Detail

Institute of Physics of Microstructures RAS: Scanning Probe Microscopy 2004. Nizhny Novgorod (02.05.2004)
Detail