Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti: lokální topografie, lokální spektroskopie, měření fluorescence, konstrukce objemového STM a SNOM mikroskopu, výroba optických hrotů.

Popis anglicky
Semiconductors - local optical and electric properties: local topography, local spectroscopy and local fluorescence measurements, construction of bulky STM and SNOM, manufacture of optical fibre probes.

Klíčová slova
polovodiče, lokální fotoluminiscence, lokální fotoproud, proces stárnutí, diagnostika

Klíčová slova anglicky
semiconductor, local photoluminescence, local photocurrent, aging process

ME 544

čeština

Tománek Pavel, prof. RNDr., CSc. - hlavní řešitel
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - spoluřešitel

Ústav fyziky
- odpovědné pracoviště (1.1.1989 - nezadáno)
Ústav fyziky
- příjemce (8.3.2002 - 31.12.2004)

GRMELA, L., TOMÁNEK, P.: Near-field Nano Optics and Related Techniques (NFO-8). Seoul (05.09.2004)
Detail

Slovak University of Technology: APCOM 2004. Častá-Píla (16.06.2004)
Detail

Institute of Physics of Microstructures RAS: Scanning Probe Microscopy 2004. Nizhny Novgorod (02.05.2004)
Detail

SPIE Europe: Photonics Europe. Strasbourg (26.04.2004)
Detail

CO-MAT-TECH 2003. Trnava (16.10.2003)
Detail

ACSIN7 - Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, Nanostructures. Nara (16.11.2003)
Detail

Measurement 2003. Smolenice (15.06.2003)
Detail

Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod (02.03.2003)
Detail

TOMÁNEK, P.: Optics in computing. St. Petersburg (15.10.2002)
Detail

TOMÁNEK, P., TOMÁNEK, P.: Photonics Prague 2002 - 4th Int.Conf. on Photonics, Devices and Systems. Praha (26.05.2002)
Detail

HRABOVSKÝ, M., SENDERÁKOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Photonics, Devices, and Systems II. Photonics, Devices, and Systems II. Neuveden. Bellingham, WA, USA: 2003. p. 1 ( p.)ISBN: 0-8194-4837-0.
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´03. Brno: 2003. p. 51 ( p.)ISBN: 80-214-2486-9.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Correlation optics 6. Neuveden. Chernivtsy: 2003. p. 56 ( p.)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near field photocurrent spectroscopy of crystalline GaAs solar cells. CO-MAt-TECH 2004. Proceedings of the Abstracts. Trnava: Vydavatelstvo STU Bratislava, 2004. p. 207 ( p.)ISBN: 80-227-2121-5.
Detail

TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Near-field local optical spectrosccopy of nanostructured semiconductors. Nano ´ 04. Brno: VUTIUM Brno, 2004. p. 40 ( p.)ISBN: 80-214-2672-1.
Detail

TOMÁNEK, P. Metamateriály - materiály se záporným indexem lomu. 4.seminář o metodách blízkého pole. Praha: Spektroskopická společnost Jana Marca Marci, 2004. s. 28 ( s.)
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., GRMELA, L. Near-field optical measurement of carrier recombination in InAs/GaAs quantum dots. Material structure & micromechanics of fracture. Brno: Vutium, Brno, 2004. p. 115 ( p.)ISBN: 80-214-26732-X.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544). 2004. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2004. s. 1-19.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti - výzkumná zpráva. neuvedeno. Brno: MŠMT, 2002.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2003. s. 1 ( s.)
Detail

Odpovědnost: Tománek Pavel, prof. RNDr., CSc.