Project detail

Evaluation of the material deformation behaviour during machining and the possibility of its use for determination of dynamic material properties

Duration: 01.01.2002 — 31.12.2003

Funding resources

Czech Science Foundation - Standardní projekty

- whole funder (2002-01-01 - 2003-12-31)

Mark

GA101/02/0770

Default language

Czech

People responsible

Bumbálek Leoš, doc. Ing., Ph.D. - principal person responsible

Units

Faculty of Mechanical Engineering
- beneficiary (2002-01-01 - 2003-12-31)

Results

BUMBÁLEK, L. Hodnocení deformačního chování materiálu při přesném obrábění. In Sborník přednášek Materiály a technologie ve výrobě speciální techniky. Brno: BVV Brno, 2003. s. 99-105.
Detail

BUMBÁLEK, L. Influence of surface layer properties on fatigue. In International Conference on Advances in Materials and Processing Technologies 2003. Dublin: Ireland, 2003. p. 1469 ( p.)ISBN: 1-872327-397.
Detail

CIHLÁŘOVÁ, P. Řezivost drážkovacích stopkových fréz vyráběných práškovou metalurgií s povlakem ALTiN. In Sborník přednášek mezinárodní vědecké konference při příležitosti 55 let založení Fakulty strojní - sekce7, strojírenská technologie - obrábění. Ostrava: VŠB - Technická Univerzita Ostrava, 2005. s. 9-9. ISBN: 80-248-0895-1.
Detail

BUMBÁLEK, L. Deformační chování materiálu při řezání se zaměřením na přesné obrábění. Brno: Akademické nakladatelství CERM s.r.o., 2003. 225 s. ISBN: 80-7204-325-0.
Detail

CIHLÁŘOVÁ, P.; PÍŠKA, M. Řezivost HSS fréz vyráběných metodou práškové metalurgie. In FRÉZOVÁNÍ III. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav strojírenské technologie, Odbor obrábění, 2003. s. 159-170. ISBN: 80-214-2436-2.
Detail

BUMBÁLEK, L. Thermal-Mechanical Model of Shear Instability During Cutting. Technologické inžinierstvo, 2004, vol. 1., no. 1, p. 3 ( p.)ISSN: 1336-5967.
Detail

BUMBÁLEK, L. How to make full use of surface structure characteristics for evaluation of high precise technologies, when the quality of products is required in the range smaller than one micrometer. In International Conference NANO03. Brno: ČSNMT Praha, 2003. p. 166-171. ISBN: 80-214-2527-X.
Detail