Project detail

The methods of test controller design for embedded system

Duration: 01.01.2003 — 31.12.2003

On the project

Snahou tohoto projektu bude navržení co nejkomplexnější metodiky pro vytváření plánu testu a uplatnění této metodiky pro vestavné systémy s cílem omezení příkonu testovacích obvodů v průběhu aplikace testu.

Description in English
The purpose of this project will be to design the most complex methodology for test plan and exercise of this methodology for embedded systems with goal to restrict power of tested circuits during test application.

Keywords
TAM, BIST, ASIC, TPG, VHDL

Key words in English
TAM, BIST, ASIC, TPG, VHDL

Mark

FR834/2003/G1

Default language

Czech

People responsible

Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. - fellow researcher
Mika Daniel, Ing., Ph.D. - principal person responsible

Responsibility: Mika Daniel, Ing., Ph.D.