This project was co-financed with state support of the CR Technological Agency as part of Programu aplikovaného výzkumu a experimentálního vývoje ALFA
www.tacr.cz
Research useful for society.

Project detail

New methods of cleaning electronic assemblies with enhanced effectivity, lower impact to the environment and lower energy needs.

Duration: 01.01.2011 — 31.12.2014

Funding resources

Technologická agentura ČR - Program aplikovaného výzkumu a experimentálního vývoje ALFA

- whole funder (2011-01-01 - not assigned)

On the project

New methods for the cleaning of assembled substrates with higher effectivity and lower ecological and energy comsumption impact

Description in English
Applied research of new diagnostic method for cleaning process, new methods of agitation of cleaning mediaand new mwthods of separating organic pollution from rinse water.

Mark

TA01011754

Default language

Czech

People responsible

Buršík Martin, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Jankovský Jaroslav, Ing. - fellow researcher
Řezníček Michal, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Szendiuch Ivan, doc. Ing., CSc. - principal person responsible

Units

Department of Microelectronics
- beneficiary (2011-01-01 - not assigned)

Results

BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M. Optimizing of PCBA cleaning process through process calibration tools. In EMPC 2013. 2013. Grenoble. France: IEEE, 2013. p. 1-3. ISBN: 978-2-9527467-1-7.
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; SZENDIUCH, I.; SITKO, V. Innovative procedures for the evaluation method of the efficiency in the cleaning process. In Electronics Technology (ISSE), 2015 38th International Spring Seminar. Eger, Hungary: IEEE, 2015. p. 288-291. ISBN: 978-963-313-177-0.
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; SZENDIUCH, I. Analytic method for monitoring of cleaning process efficiency. In IEEE CONFERENCE PUBLICATIONS. Dresden, Německo: IEEE, 2014. s. 341-344. ISBN: 978-3-934142-49-7.
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně: Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. 25052, užitný vzor. (2013)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Měřicí metoda pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečištěných tavidly. 305605, patent. (2015)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; VUT v Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech, určené k lepení čipů, a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. 304596, patent. (2014)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Dispenzer k označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace. 25177, užitný vzor. (2013)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Způsob označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace a dispenzer k jeho provádění. 304754, patent. (2014)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké Učení Technické V Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech určené k lepení čipů a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. EP2746235, patent. (2017)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; Vysoké učení technické v Brně: Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly. 25097, užitný vzor. (2013)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: Obloukový odparník; Přípravek pro optické vyhodnocení mycí kapaliny. VUT v Brně, Technická 3058/10, Laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; MUSIL, V.: Plasmový detektor bublin; Plazmový detektor bublin v ovrstvení. Technická 3058/10, Laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Vodivostní čidlo; Vodivostní čidlo. Technická 3058/10, Laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Zdrsňování pražců; Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. VUT, UMEL Technická 3058/10 61600 Brno laboratoř 0.63. (prototyp)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Značení substrátů; Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. VUT, UMEL Technická 3058/10 61600 Brno laboratoř 0.63. (ověřená technologie)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Nastřelovač; Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. VUT, UMEL Technická 3058/10 616 00 Brno laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: QCM; Držák QCM krystalu mikrováhy. VUT, UMEL Technická 3058/10 616 00 Brno laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Posklívání; Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. Technická 3058/10. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-uprava-povrchove-vrstvy-pro-lepen-cipu-na-sklenene-testovaci-substraty.pdf. (poloprovoz)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Značení skel; Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. Technická 3058/10, 61600 Brno Laboratoř 0.63. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-znaceni-sklenenych-a-keramickych-substratu-urcenych-pro-narocne-aplikace.pdf. (poloprovoz)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: VYZKO - K01; Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů. Technická 3058/10 Laboratoř 0.63. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/bursik-fv-vyhodnoceni-zbytkove-kontaminace-substratu.pdf. (funkční vzorek)
Detail

Responsibility: Szendiuch Ivan, doc. Ing., CSc.