Project detail

Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu.

Duration: 1.11.2012 — 31.1.2013

Funding resources

Neveřejný sektor - Přímé kontrakty - smluvní výzkum, neveřejné zdroje

- whole funder (1. 11. 2012 - 31. 1. 2013)

On the project

VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Description in English
VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Keywords
reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Key words in English
reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Mark

2012_HS18257046

Default language

Czech

People responsible

Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - principal person responsible
Chvátal Miloš, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Majzner Jiří, Ing., Ph.D. - fellow researcher

Units

Centre of Sensor, Information and Communication Systems
- responsible department (1.1.1989 - not assigned)
Department of Physics
- co-beneficiary (1.11.2012 - 31.1.2013)
Centre of Sensor, Information and Communication Systems
- beneficiary (1.11.2012 - 31.1.2013)

Results

GRMELA, L. Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Brno: 2012. s. 1-5.
Detail

Responsibility: Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc.