Project detail

Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu.

Duration: 01.11.2012 — 31.01.2013

Funding resources

Neveřejný sektor - Přímé kontrakty - smluvní výzkum, neveřejné zdroje
- whole funder (2012-11-01 - 2013-01-31)

On the project

VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Description in English
VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Keywords
reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Key words in English
reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Mark

2012_HS18257046

Default language

Czech

People responsible

Chvátal Miloš, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Majzner Jiří, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - principal person responsible

Units

Centre of Sensor, Information and Communication Systems
- (2012-11-01 - 2013-01-31)
Department of Physics
- (2012-11-01 - 2013-01-31)

Results

GRMELA, L. Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Brno: 2012. s. 1-5.
Detail

Responsibility: Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc.