VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Popis anglicky
VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Klíčová slova
reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Klíčová slova anglicky
reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

2012_HS18257046

čeština

Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - hlavní řešitel
Chvátal Miloš, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Majzner Jiří, Ing., Ph.D. - spoluřešitel

Centrum senzorických, informačních a komunikačních systémů
- odpovědné pracoviště (1.1.1989 - nezadáno)
SCI LLC-a wholly owned subsidiary of ON Semiconductor
- objednatel (1.1.1900 - nezadáno)
Ústav fyziky
- spolupříjemce (1.11.2012 - 31.1.2013)
Centrum senzorických, informačních a komunikačních systémů
- příjemce (1.11.2012 - 31.1.2013)

GRMELA, L. Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Brno: 2012. s. 1-5.
Detail

Odpovědnost: Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc.