Project detail

Nanoelectronic COupled Problems Solutions (nanoCOPS) - evropský projekt FP7 STREP č. 619166

Duration: 01.01.2014 — 31.12.2016

Funding resources

Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - Podpora projektů sedmého rámcového programu Evropského společenství pro výzkum, technologický rozvoj a demonstrace (2007 až 2013) podle zákona č. 171/2007 Sb.

- whole funder (2014-01-01 - 2016-10-31)

On the project

Designs in nanoelectronics often lead to large-size simulation problems and include strong feedback couplings. Industry demands the provisions of variability to guarantee quality and yield. It also requires the incorporation of higher abstraction levels to allow for system simulation in order to shorten the design cycles, while at the same time preserving accuracy. The nanoCOPS project addresses the simulation of two technically and commercially important problem classes identified by our industrial partners.

Keywords
Co-simulation, Model Order Reduction (MOR), Monolithic time integration, Multirate time integration, Uncertainty Quantification (UQ)

Mark

FP7 nanoCOPS

Default language

English

People responsible

Units

Department of Radio Electronics
- beneficiary (2014-01-01 - 2016-12-31)
division-REL-SIX
- co-beneficiary (2014-01-01 - 2016-12-31)

Results

ŠOTNER, R.; PETRŽELA, J.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; KRATOCHVÍL, T.: Bondwire tester; Šestikanálový tester bondovacích vodičů. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2014/Sotner_bondwire_tester_CZ.pdf. (funkční vzorek)
Detail

ŠOTNER, R.; GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; KRATOCHVÍL, T.: Powercell tester; Tester pro dynamické zkoušky spolehlivosti výkonových MOS buněk. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2015/Sotner_powercell_tester_CZ.pdf. (funkční vzorek)
Detail

GÖTTHANS, T.; DŘÍNOVSKÝ, J.; PETRŽELA, J.; ŠOTNER, R.; KRATOCHVÍL, T.: nanocops SW powercell; Program pro automatizovanou pro lokalizaci prasklin zatížených tranzistorových buněk. Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12. URL: http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/software/2015/Gotthans_NANOCOPS_SW_CZ.pdf. (software)
Detail

GÖTTHANS, T.: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE). Drážďany (14.03.2016)
Detail