Projekt je zaměřen na rozšíření spolupráce CEITEC VUT skupiny Příprava a charakterizace nanostruktur a spin-off firmy NenoVision do oblasti aplikovaného výzkumu aplikací využívajících novou techniku korelativního měření CPEM (Correlative Probe and Electron Microscopy). Technologie vyvinutá NenoVision využívá dvou typů standardních nástrojů analýzy, a to skenovací sondové mikroskopie (SPM) a elektronové mikroskopie (SEM) a je využívána pro charakterizaci povrchu vzorků v oblasti nanotechnologií, polovodičového průmyslu, solárních článků a materiálových věd.

Description in English
The project focuses on the extension of the cooperation between CEITEC BUT (group Preparation and characterization of nanostructures) and spin-offs NanoVision in the field of applied research of applications utilizing Correlative Probe and Electron Microscopy. The CPEM technology, developed by NenoVision, utilize two types of standard analysis tools: Scanning Probe Microscopy (SPM) and Scanning Electron Microscopy (SEM) for the surface characterization of samples in nanotechnology, semiconductor, solar cells and materials science. The aim of the project is experimental verification of CPEM applications by young scientists at a wide range of samples and creation of key applications for measuring electrical, magnetic and mechanical properties.

Keywords
AFM, SPM, SEM, korelativní zobrazování, nanotechnologie, charakterizace povrchu

Key words in English
AFM, SPM, SEM, corelative imaging, nanotechnology, surface characterization