Project detail

Advanced microsocpy techniques

Duration: 01.07.2019 — 31.12.2022

Funding resources

Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR - TRIO

- whole funder (2019-07-17 - 2022-12-31)

On the project

Cílem projektu POMITE je rozšíření aplikačního a komerčního využití produktu LiteScope. Jedná se o zařízení speciálně určené pro integraci do elektronových mikroskopů prohlubující moderní oblast korelativní mikroskopie, které společnost NenoVision vyvinula a uvedla na trh mikroskope atomárních sil. K naplnění stanoveného cíle POMITE byly na základě analýzy zákaznických požadavků a trhu vybrány tří oblasti inovace produktu: a) zrychlení doby měření mikroskopu LitesScope pomocí tzv. „Fast imaging“ pomocí upgradu vybraných komponent, b) rozšíření současného zařízení o techniky potřebné pro nanoindentaci a charakterizaci mechanických vlastností vzorků a c) vývoj softwarových a jiných nástrojů podporujících interpretaci dat pro korelativní zobrazování a pokročilých mikroskopických technik. Realizace těchto cílů by měla výrazně zvýšit aplikační využití pro produkt LiteScope. V praxi budou výsledky projekty využity společností NenoVision, která uvede na trh inovovaný produkt s rozšiřujícími moduly. Z komerčního pohledu očekáváme po úspěšné realizaci projektu navýšení počtu prodaných kusů produktu LiteScope, navýšení jednotkové ceny produktu a nárůst obratu společnosti NenoVision. Výstupem budou dva prototypy inovovaného produktu zaměření na nanoinentaci a fast imaging, které kromě funkčního testování projdou i řadou aplikačních měření a jejich optimalizací.

Description in English
The goal of the project POMITE is the enhancement of the application field and business areas of the product LiteScope. The company NenoVision has successfully launched the developed product atomic force microscope LiteScope. The instrument is specifically designed for the integration into the electron microscopes and is opening possibilities for modern correlative imaging. To reach the outlined goal three main areas for innovation were selected, based on the customer and market requests as follows: 1) shortening of the measurement time of LiteScope using techniques of „Fast imaging“ by upgrading of preselected product components 2) extension of the existing product by techniques utilized for nanoindentation and characterization on the mechanical properties of the samples 3) Development software and other tools supporting data interpretation of the correlative imaging and advanced microscopy techniques. Realization of the outlined goals will lead to the increase of the LiteScope application filed. Project outputs will be commercialized by the company NenoVision, by product innovation with extension modules. From the business point of view after the end of the project, we expect the growth of the number of sold units, an increase of the unit price and hence the growing of the company turnover. Project outputs will be 2 prototypes of the innovated products focused to the nanoindentation and fast imaging field, which will undergo extensive functional and application testing. Targeted selection of the project partners should guarantee the fulfilment of the outlined goals and excellence in the development and product innovation. Company NenoVison (BUT Spin-off) already proved the ability of successful commercialization of the RaD outcomes. Partner ČMI has long-term experiences with the development of hardware and software tools for atomic force microscopy and BUT with the research infrastructure CEITEC Nano has an extensive number of scientific users.

Keywords
mikroskopie; korelativní zobrazování; nanoindentace; afm; sem; nanotechnologie

Key words in English
Microscopy- correlative imaging- nanoindentation- AFM- SEM- nanotechnology

Mark

FV40238

Default language

Czech

People responsible

Urbánek Michal, Ing., Ph.D. - principal person responsible

Units

Central European Institute of Technology BUT
- (2018-10-04 - 2018-10-19)
Core Facility
- (2018-10-04 - not assigned)

Results

NEČAS, D.; YACOOT, A.; VALTR, M.; KLAPETEK, P. Demystifying data evaluation in the measurement of periodic structures. Measurement Science and Technology, 2023, vol. 34, no. 5, p. 1-21. ISSN: 1361-6501.
Detail

VALTR, M.; KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; NOVOTNY, O.; JELINEK, Z.; HORTVÍK, V.; NEČAS, D. Scanning Probe Microscopy controller with advanced sampling support. HardwareX, 2023, vol. 15, no. e00451, ISSN: 2468-0672.
Detail

ALMOTASEM, A.; DAGHBOUJ, N.; SEN, H.; MIRZAEI, S.; CALLISTI, M.; POLCAR, T. Influence of HCP/BCC interface orientation on the tribological behavior of Zr/Nb multilayer during nanoscratch: A combined experimental and atomistic study. ACTA MATERIALIA, 2023, vol. 249, no. 118832, ISSN: 1873-2453.
Detail