Publication detail

Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy

ŠULC, D. WERTHEIMER, P. PAVERA, M. NOVÁČEK, Z. NEUMAN, J. ŠIKOLA, T.

Original Title

Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy

English Title

Development of universal controll electronics for scanning probe microscope

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

V textu tohoto článku je představen open-source projekt Gnome X Scanning Microscopy, který tvoří univerzální platformu pro ovládání většiny rastrovacích sondových mikroskopů. Dále je popsán vysokonapěťový zesilovač navržený a vyrobený na ÚFI FSI VUT, který slouží k ovládání trubkového piezokeramického skeneru. Cílem bylo vytvořit univerzální zařízení schopné ovládat většinu dostupných mikroskopů SPM.

English abstract

In this article the open-source project Gnome X Scanning Microscopy is introduced. It is a universal tool for the control of the most Scanning Probe Microscopes. High Voltage Amplifier (HVA), which was developed at Institute of Physical Engineering Faculty of Mechanical Engineering at Brno University of Technology, is described. HVA has been designed for the controll of Piezo Tube Scanner. The goal was to develop universal equipment able to controll all common Scanning Probe Microscopes.

Keywords

rastrovací sondový mikroskop; mikroskop atomárních sil; GXSM; transimpedanční zesilovač; vysokonapěťový zesilovač; předzesilovač

Key words in English

scanning probe microscope; atomic force microscope; GXSM; transimpedance amplifier; HV amplifier; Pre-amplifier

Authors

ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; PAVERA, M.; NOVÁČEK, Z.; NEUMAN, J.; ŠIKOLA, T.

RIV year

2014

Released

1. 7. 2014

ISBN

0447-6441

Periodical

Jemná mechanika a optika

Year of study

59

Number

6-7

State

Czech Republic

Pages from

169

Pages to

171

Pages count

3

BibTex

@article{BUT108833,
  author="Dalibor {Šulc} and Pavel {Wertheimer} and Michal {Pavera} and Zdeněk {Nováček} and Jan {Neuman} and Tomáš {Šikola}",
  title="Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2014",
  volume="59",
  number="6-7",
  pages="169--171",
  issn="0447-6441"
}