Detail publikace

Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy

ŠULC, D. WERTHEIMER, P. PAVERA, M. NOVÁČEK, Z. NEUMAN, J. ŠIKOLA, T.

Originální název

Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy

Anglický název

Development of universal controll electronics for scanning probe microscope

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

V textu tohoto článku je představen open-source projekt Gnome X Scanning Microscopy, který tvoří univerzální platformu pro ovládání většiny rastrovacích sondových mikroskopů. Dále je popsán vysokonapěťový zesilovač navržený a vyrobený na ÚFI FSI VUT, který slouží k ovládání trubkového piezokeramického skeneru. Cílem bylo vytvořit univerzální zařízení schopné ovládat většinu dostupných mikroskopů SPM.

Anglický abstrakt

In this article the open-source project Gnome X Scanning Microscopy is introduced. It is a universal tool for the control of the most Scanning Probe Microscopes. High Voltage Amplifier (HVA), which was developed at Institute of Physical Engineering Faculty of Mechanical Engineering at Brno University of Technology, is described. HVA has been designed for the controll of Piezo Tube Scanner. The goal was to develop universal equipment able to controll all common Scanning Probe Microscopes.

Klíčová slova

rastrovací sondový mikroskop; mikroskop atomárních sil; GXSM; transimpedanční zesilovač; vysokonapěťový zesilovač; předzesilovač

Klíčová slova v angličtině

scanning probe microscope; atomic force microscope; GXSM; transimpedance amplifier; HV amplifier; Pre-amplifier

Autoři

ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; PAVERA, M.; NOVÁČEK, Z.; NEUMAN, J.; ŠIKOLA, T.

Rok RIV

2014

Vydáno

1. 7. 2014

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Ročník

59

Číslo

6-7

Stát

Česká republika

Strany od

169

Strany do

171

Strany počet

3

BibTex

@article{BUT108833,
  author="Dalibor {Šulc} and Pavel {Wertheimer} and Michal {Pavera} and Zdeněk {Nováček} and Jan {Neuman} and Tomáš {Šikola}",
  title="Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2014",
  volume="59",
  number="6-7",
  pages="169--171",
  issn="0447-6441"
}