Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Product detail
NOVÁČEK, Z. PAVERA, M. NEUMAN, J. WERTHEIMER, P. ŠULC, D. ŠIKOLA, T.
Product type
funkční vzorek
Abstract
Zařízení umožňuje základní měření mikroskopickými metodami STM a AFM (AFM se sondami založenými na křemenné ladičce). Posuv sondy v rovině vzorku je manuální, kolmo na vzorek je posuv zajištěn krokovým motorem. Zařízení slouží především pro účely testování vyvíjené univerzální elektronické řídicí jednotky pro mikroskopy SPM.
Keywords
rastrovací sondový mikroskop; rastrovací tunelovací mikroskop; mikroskop atomárních sil
Create date
18. 9. 2014
Location
Laboratoře ÚFI, FSI VUT v Brně
Possibilities of use
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licence fee
Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
www
http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-04/