Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail produktu
NOVÁČEK, Z. PAVERA, M. NEUMAN, J. WERTHEIMER, P. ŠULC, D. ŠIKOLA, T.
Typ produktu
funkční vzorek
Abstrakt
Zařízení umožňuje základní měření mikroskopickými metodami STM a AFM (AFM se sondami založenými na křemenné ladičce). Posuv sondy v rovině vzorku je manuální, kolmo na vzorek je posuv zajištěn krokovým motorem. Zařízení slouží především pro účely testování vyvíjené univerzální elektronické řídicí jednotky pro mikroskopy SPM.
Klíčová slova
rastrovací sondový mikroskop; rastrovací tunelovací mikroskop; mikroskop atomárních sil
Datum vzniku
18. 9. 2014
Umístění
Laboratoře ÚFI, FSI VUT v Brně
Možnosti využití
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licenční poplatek
Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
www
http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-04/