Patent detail
Interferometrický systém a způsob měření prostorového rozložení indexu lomu
KOLMAN, P. CHMELÍK, R.
Patent type
Patent
Abstract
Způsob měření prostorového rozložení indexu lomu je vhodný k využití v digitální holografické mikroskopii k pozorování vzorků v odraženém i procházejícím záření a k pozorování luminiscenčních vzorků.
Keywords
fluorescence, interferometrie, tomografie, fluorescenční koherenční tomografie
Patent number
306015
Date of application
20. 10. 2014
Date of registration
11. 5. 2016
Owner
Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ
Possibilities of use
In order to use the result by another entity, it is always necessary to acquire a license
Licence fee
The licensor requires a license fee for the result
www