Detail patentu

Interferometrický systém a způsob měření prostorového rozložení indexu lomu

KOLMAN, P. CHMELÍK, R.

Typ patentu

patent

Abstrakt

Způsob měření prostorového rozložení indexu lomu je vhodný k využití v digitální holografické mikroskopii k pozorování vzorků v odraženém i procházejícím záření a k pozorování luminiscenčních vzorků.

Klíčová slova

fluorescence, interferometrie, tomografie, fluorescenční koherenční tomografie

Číslo patentu

306015

Datum přihlášky

20. 10. 2014

Datum zápisu

11. 5. 2016

Vlastník

Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ

Možnosti využití

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

www