Publication detail

Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultravysokém vakuu

Jakub Piňos, Eliška Mikmeková, Šárka Mikmeková, Ilona Müllerová, Luděk Frank

Original Title

Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultravysokém vakuu

English Title

Low energy electron microscopy in ultra high vacuum

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Článek představuje již třetí verzi ultravysokovakuového mikroskopu s velmi pomalými elektrony vyvinutého a vyrobeného v ÚPT AVČR v Brně. Tento mikroskop je světově unikátním zařízením umožňujícím experimenty na speciálně připravených površích pevných látek. Mimořádné požadavky kladené na technické zpracování dílů pro UHV demonstrují možnosti precizní výroby v dílnách ústavu i spolupráci vědeckých oddělení například při svařování dílů elektronovým svazkem.

English abstract

This article presents the third version of ultrahigh vacuum microscope with very slow electrons, developed and produced at ISI CAS in Brno. This microscope is a world-class facility for experiments on specially prepared solids surfaces. Exceptional requirements for UHV component engineering demonstrate the possibilities of precision manufacturing in the workshops of the Institute as well as the collaboration of scientific departments, for example, when welding parts by an electron beam.

Keywords

Rastrovací mikroskopie, pomalé elektrony, ultrahigh vacuum, grafén, oceli, Augerova spektroskopie, atomově čisté povrchy, in-situ

Key words in English

Scanning electron microscopy, slow electrons, ultra high vacuum graphene, steel, auger spectroscopy, atomicaly clean surfaces, in-situ

Authors

Jakub Piňos, Eliška Mikmeková, Šárka Mikmeková, Ilona Müllerová, Luděk Frank

Released

1. 10. 2017

ISBN

0447-6441

Periodical

Jemná mechanika a optika

Number

10 2017

State

Czech Republic

Pages from

264

Pages to

265

Pages count

2

BibTex

@article{BUT149396,
  author="Jakub {Piňos}",
  title="Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultravysokém vakuu",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2017",
  number="10 2017",
  pages="264--265",
  issn="0447-6441"
}