Detail publikace

Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultravysokém vakuu

Jakub Piňos, Eliška Mikmeková, Šárka Mikmeková, Ilona Müllerová, Luděk Frank

Originální název

Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultravysokém vakuu

Anglický název

Low energy electron microscopy in ultra high vacuum

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Článek představuje již třetí verzi ultravysokovakuového mikroskopu s velmi pomalými elektrony vyvinutého a vyrobeného v ÚPT AVČR v Brně. Tento mikroskop je světově unikátním zařízením umožňujícím experimenty na speciálně připravených površích pevných látek. Mimořádné požadavky kladené na technické zpracování dílů pro UHV demonstrují možnosti precizní výroby v dílnách ústavu i spolupráci vědeckých oddělení například při svařování dílů elektronovým svazkem.

Anglický abstrakt

This article presents the third version of ultrahigh vacuum microscope with very slow electrons, developed and produced at ISI CAS in Brno. This microscope is a world-class facility for experiments on specially prepared solids surfaces. Exceptional requirements for UHV component engineering demonstrate the possibilities of precision manufacturing in the workshops of the Institute as well as the collaboration of scientific departments, for example, when welding parts by an electron beam.

Klíčová slova

Rastrovací mikroskopie, pomalé elektrony, ultrahigh vacuum, grafén, oceli, Augerova spektroskopie, atomově čisté povrchy, in-situ

Klíčová slova v angličtině

Scanning electron microscopy, slow electrons, ultra high vacuum graphene, steel, auger spectroscopy, atomicaly clean surfaces, in-situ

Autoři

Jakub Piňos, Eliška Mikmeková, Šárka Mikmeková, Ilona Müllerová, Luděk Frank

Vydáno

1. 10. 2017

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Číslo

10 2017

Stát

Česká republika

Strany od

264

Strany do

265

Strany počet

2

BibTex

@article{BUT149396,
  author="Jakub {Piňos}",
  title="Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultravysokém vakuu",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2017",
  number="10 2017",
  pages="264--265",
  issn="0447-6441"
}