Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Product detail
ŠIK, O. VOBORNÝ, S. MÜNZ, F. HUBÁLEK, J.
Product type
funkční vzorek
Abstract
SEM, XRD, XPS, fotoluminiscenční analýza a elipsometrie epitaxní vrstvy GaN rostlé na safírovém substrátu metodou MOCVD.
Keywords
GaN, epitaxy, SEM, XRD, XPS, Photoluminiscence, Ellipsometry, MOCVD
Create date
30. 12. 2018
Location
CEITEC, Research group RG102
Possibilities of use
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licence fee
Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
www
http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=141