Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail produktu
ŠIK, O. VOBORNÝ, S. MÜNZ, F. HUBÁLEK, J.
Typ produktu
funkční vzorek
Abstrakt
SEM, XRD, XPS, fotoluminiscenční analýza a elipsometrie epitaxní vrstvy GaN rostlé na safírovém substrátu metodou MOCVD.
Klíčová slova
GaN, epitaxy, SEM, XRD, XPS, Photoluminiscence, Ellipsometry, MOCVD
Datum vzniku
30. 12. 2018
Umístění
CEITEC, Research group RG102
Možnosti využití
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licenční poplatek
Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
www
http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=141