Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Publication detail
BRODSKÝ, J. GABLECH, I.
Original Title
Charakterizace elektrických vlastností materiálů založených na grafenu na MEMS strukturách
English Title
Characterization of electrical properties of graphene-based materials on MEMS structures
Type
article in a collection out of WoS and Scopus
Language
Czech
Original Abstract
Tato práce obsahuje charakterizaci základních elektrických vlastností grafenu a grafen oxidu. Grafen byl připraven pomocí chemické redukce grafen oxidu. Experimentální část této práce popisuje proces přípravy vzorků s grafenem a redukovaným grafen oxidem, včetně jejich měření volt-ampérových charakteristik dvoubodovou metodou. Měření proběhla na MEMS struktuře, kterou lze použít pro mechanické ohýbání. Tato struktura bude sloužit pro charakterizaci grafenu a jiných 2D materiálů.
English abstract
This work presents characterization of basic electrical properties of graphene and graphene oxide. Graphene was prepared by chemical reduction of graphene oxide. The experimental part of this work describes the process of graphene oxide and reduced graphene oxide sample preparation and measurement of its current-voltage characteristic by two-point probe method. Measurement is carried out on MEMS structure, which can be used for mechanical bending. Such structure will serve for utilization of graphene and other 2D materials.
Keywords
MEMS, grafen, grafen oxid, volt-ampérové charakteristiky, Ramanova spektroskopie
Key words in English
MEMS, graphene, graphene oxide, current-voltage characteristic, Raman spectroscopy
Authors
BRODSKÝ, J.; GABLECH, I.
Released
25. 4. 2019
Publisher
VUT
Location
Brno, Czech Republic
ISBN
978-80-214-5735-5
Book
Proceedings of the 25th Conference STUDENT EEICT
Pages from
158
Pages to
161
Pages count
4
BibTex
@inproceedings{BUT171863, author="Jan {Brodský} and Imrich {Gablech}", title="Charakterizace elektrických vlastností materiálů založených na grafenu na MEMS strukturách", booktitle="Proceedings of the 25th Conference STUDENT EEICT", year="2019", pages="158--161", publisher="VUT", address="Brno, Czech Republic", isbn="978-80-214-5735-5" }