Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
BRODSKÝ, J. GABLECH, I.
Originální název
Charakterizace elektrických vlastností materiálů založených na grafenu na MEMS strukturách
Anglický název
Characterization of electrical properties of graphene-based materials on MEMS structures
Typ
článek ve sborníku mimo WoS a Scopus
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Tato práce obsahuje charakterizaci základních elektrických vlastností grafenu a grafen oxidu. Grafen byl připraven pomocí chemické redukce grafen oxidu. Experimentální část této práce popisuje proces přípravy vzorků s grafenem a redukovaným grafen oxidem, včetně jejich měření volt-ampérových charakteristik dvoubodovou metodou. Měření proběhla na MEMS struktuře, kterou lze použít pro mechanické ohýbání. Tato struktura bude sloužit pro charakterizaci grafenu a jiných 2D materiálů.
Anglický abstrakt
This work presents characterization of basic electrical properties of graphene and graphene oxide. Graphene was prepared by chemical reduction of graphene oxide. The experimental part of this work describes the process of graphene oxide and reduced graphene oxide sample preparation and measurement of its current-voltage characteristic by two-point probe method. Measurement is carried out on MEMS structure, which can be used for mechanical bending. Such structure will serve for utilization of graphene and other 2D materials.
Klíčová slova
MEMS, grafen, grafen oxid, volt-ampérové charakteristiky, Ramanova spektroskopie
Klíčová slova v angličtině
MEMS, graphene, graphene oxide, current-voltage characteristic, Raman spectroscopy
Autoři
BRODSKÝ, J.; GABLECH, I.
Vydáno
25. 4. 2019
Nakladatel
VUT
Místo
Brno, Czech Republic
ISBN
978-80-214-5735-5
Kniha
Proceedings of the 25th Conference STUDENT EEICT
Strany od
158
Strany do
161
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT171863, author="Jan {Brodský} and Imrich {Gablech}", title="Charakterizace elektrických vlastností materiálů založených na grafenu na MEMS strukturách", booktitle="Proceedings of the 25th Conference STUDENT EEICT", year="2019", pages="158--161", publisher="VUT", address="Brno, Czech Republic", isbn="978-80-214-5735-5" }