Publication detail

Mikroskopie v blízkém poli s lokální sondou

TOMÁNEK, P.

Original Title

Mikroskopie v blízkém poli s lokální sondou

English Title

Near-field microscopy with the local probe

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

Od objevu rastrovací tunelové mikroskopie se staly různé typy mikroskopů s lokální sondou, pracující v blízkém poli, vhodným nástrojem pro studium vodivých, polovodičových i dielektrických nevodivých povrchů. Možnost trojrozměrného zobrazení povrchu s vysokou rozlišovací schopností vede k četným zajímavým aplikacím. V tomto příspěvku budeme prezentovat princip zařízení a porovnáme výkonnost a možnosti této nové techniky.

English abstract

Since the discovery of Scanning tunneling microscopy, the different types of scanning probe microscopy became the good tool of study of metallic, semiconductor and insulator surfaces. The possibility of 3_D imaging having a superresolution leads to variious interesting results. The paper deals with principles of devices as well as efficiency and possibility of this novel technique.

Keywords

mikroskopie v blízkém poli, lokální osndy, princip činnosti, výkonnost

Key words in English

near-field microscopy, local probes, principles, performance

Authors

TOMÁNEK, P.

RIV year

1998

Released

15. 3. 1998

ISBN

0447-6441

Periodical

Jemná mechanika a optika

Year of study

43

Number

3

State

Czech Republic

Pages from

89

Pages to

89

Pages count

1

BibTex

@article{BUT39015,
  author="Pavel {Tománek}",
  title="Mikroskopie v blízkém poli s lokální sondou",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="1998",
  volume="43",
  number="3",
  pages="1",
  issn="0447-6441"
}