Detail publikačního výsledku

Mikroskopie v blízkém poli s lokální sondou

TOMÁNEK, P.

Originální název

Mikroskopie v blízkém poli s lokální sondou

Anglický název

Near-field microscopy with the local probe

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

Od objevu rastrovací tunelové mikroskopie se staly různé typy mikroskopů s lokální sondou, pracující v blízkém poli, vhodným nástrojem pro studium vodivých, polovodičových i dielektrických nevodivých povrchů. Možnost trojrozměrného zobrazení povrchu s vysokou rozlišovací schopností vede k četným zajímavým aplikacím. V tomto příspěvku budeme prezentovat princip zařízení a porovnáme výkonnost a možnosti této nové techniky.

Anglický abstrakt

Since the discovery of Scanning tunneling microscopy, the different types of scanning probe microscopy became the good tool of study of metallic, semiconductor and insulator surfaces. The possibility of 3_D imaging having a superresolution leads to variious interesting results. The paper deals with principles of devices as well as efficiency and possibility of this novel technique.

Klíčová slova

mikroskopie v blízkém poli, lokální osndy, princip činnosti, výkonnost

Klíčová slova v angličtině

near-field microscopy, local probes, principles, performance

Autoři

TOMÁNEK, P.

Vydáno

15.03.1998

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Svazek

43

Číslo

3

Stát

Česká republika

Strany od

89

Strany počet

1

BibTex

@article{BUT39015,
  author="Pavel {Tománek}",
  title="Mikroskopie v blízkém poli s lokální sondou",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="1998",
  volume="43",
  number="3",
  pages="1",
  issn="0447-6441"
}