@inproceedings{BUT4045,
  author="František {Matějka} and Filip {Lopour} and Jiřina {Matějková}",
  title="Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM",
  booktitle="2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách",
  year="2000",
  pages="4",
  publisher="FÚ AVČR",
  address="Praha"
}