Detail publikace

Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM

MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J.

Originální název

Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM

Anglický název

A possibilities of metrics testing of STM and AFM

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM

Anglický abstrakt

A possibilities of metrics testing of STM and AFM

Klíčová slova v angličtině

STM, AFM

Autoři

MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J.

Vydáno

27. 9. 2000

Nakladatel

FÚ AVČR

Místo

Praha

Strany od

65

Strany do

68

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT4045,
  author="František {Matějka} and Filip {Lopour} and Jiřina {Matějková}",
  title="Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM",
  booktitle="2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách",
  year="2000",
  pages="4",
  publisher="FÚ AVČR",
  address="Praha"
}