Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Publication detail
OTEVŘELOVÁ, D., TOMÁNEK, P.
Original Title
Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu
English Title
Calculation of facet reflectivity of shallowly buried semiconductor slabs
Type
journal article - other
Language
Czech
Original Abstract
Metoda vidů vyzařovaných do poloprostoru, která se používá pro vidovou analýzu vidů vlnovodů, je zde rozšířena i na výpočet odrazivosti čela mělce vnořené polovodičové struktury a může být též použita pro 2-D vlnovodné struktury. Na výstupní čelo vlnovodu, orientované kolmo nebo šikmo na dopadající světlo, může být napařen libovolný počet antireflexních vrstev, čímž se zvýší účinnost vazby. Navržená metoda výpočtu je použitelná jak pro TE, tak i pro TM polarizace světla. V metodě je pomocí iteračních kroků implicitně zahrnut i vliv difrakčních růžků vlnovodu na odrazivost čel.
English abstract
The novel Half Space Radiation Mode (HSRM) method for modal analysis is extended to calculate the facet reflectivity of shallowly buried semiconductor slab and can be also used for 2D-waveguides. The impact of the diffractive corners on facet reflectivity is implicitly incorporated in this method via an iterative procedure. The end facet can be uncoated or coated with an arbitrary number of layers. The waveguide can also be incident normally to the facet or at an angle. The method can be presented for both the TE and TM polarizations.
Keywords
vlnovod, deska, odrazivost, výpočet
Key words in English
waveguide, slab, reflectivity, calculation
Authors
RIV year
2004
Released
5. 9. 2004
ISBN
0447-6411
Year of study
49
Number
9
Pages from
245
Pages to
247
Pages count
3
BibTex
@article{BUT42127, author="Dana {Otevřelová} and Pavel {Tománek}", title="Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu", year="2004", volume="49", number="9", pages="3", issn="0447-6411" }