Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
OTEVŘELOVÁ, D., TOMÁNEK, P.
Originální název
Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu
Anglický název
Calculation of facet reflectivity of shallowly buried semiconductor slabs
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
čeština
Originální abstrakt
Metoda vidů vyzařovaných do poloprostoru, která se používá pro vidovou analýzu vidů vlnovodů, je zde rozšířena i na výpočet odrazivosti čela mělce vnořené polovodičové struktury a může být též použita pro 2-D vlnovodné struktury. Na výstupní čelo vlnovodu, orientované kolmo nebo šikmo na dopadající světlo, může být napařen libovolný počet antireflexních vrstev, čímž se zvýší účinnost vazby. Navržená metoda výpočtu je použitelná jak pro TE, tak i pro TM polarizace světla. V metodě je pomocí iteračních kroků implicitně zahrnut i vliv difrakčních růžků vlnovodu na odrazivost čel.
Anglický abstrakt
The novel Half Space Radiation Mode (HSRM) method for modal analysis is extended to calculate the facet reflectivity of shallowly buried semiconductor slab and can be also used for 2D-waveguides. The impact of the diffractive corners on facet reflectivity is implicitly incorporated in this method via an iterative procedure. The end facet can be uncoated or coated with an arbitrary number of layers. The waveguide can also be incident normally to the facet or at an angle. The method can be presented for both the TE and TM polarizations.
Klíčová slova
vlnovod, deska, odrazivost, výpočet
Klíčová slova v angličtině
waveguide, slab, reflectivity, calculation
Autoři
Rok RIV
2004
Vydáno
5. 9. 2004
ISSN
0447-6411
Ročník
49
Číslo
9
Strany od
245
Strany do
247
Strany počet
3
BibTex
@article{BUT42127, author="Dana {Otevřelová} and Pavel {Tománek}", title="Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu", year="2004", volume="49", number="9", pages="3", issn="0447-6411" }