Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Publication detail
TICHOPÁDEK, P.
Original Title
In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů
English Title
In-situ ellipsometry of surfaces and thin films
Type
conference paper
Language
Czech
Original Abstract
English abstract
Key words in English
Ellipsometry
Authors
RIV year
2001
Released
5. 12. 2000
Publisher
Vutium
Location
Brno
Pages from
329
Pages to
332
Pages count
4
BibTex
@inproceedings{BUT4506, author="Petr {Tichopádek}", title="In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů", booktitle="II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI", year="2000", pages="4", publisher="Vutium", address="Brno" }