Detail publikace

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

TICHOPÁDEK, P.

Originální název

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

Anglický název

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

Anglický abstrakt

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Klíčová slova v angličtině

Ellipsometry

Autoři

TICHOPÁDEK, P.

Rok RIV

2001

Vydáno

5. 12. 2000

Nakladatel

Vutium

Místo

Brno

Strany od

329

Strany do

332

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT4506,
  author="Petr {Tichopádek}",
  title="In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů",
  booktitle="II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI",
  year="2000",
  pages="4",
  publisher="Vutium",
  address="Brno"
}