Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Ing.
CEITEC VUT, RG-1-06 – vědecký pracovník
marek.zemek@ceitec.vutbr.cz
Odeslat VUT zprávu
2024
MALEČEK, L.; ZEMEK, M.; LÁZŇOVSKÝ, J.; ZIKMUND, T.; KAISER, J. Zobrazování ve fázovém kontrastu v rentgenové výpočetní tomografii metodou volného šíření záření. Jemná mechanika a optika, 2024, roč. 69, č. 6, s. 146-149. ISSN: 0447-6441.Detail | WWW
MIKULÁČEK, P.; ZEMEK, M.; ŠTARHA, P.; ZIKMUND, T.; KAISER, J. Application of Dual-target Computed Tomography for Material Decomposition of Low-Z Materials. JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE EVALUATION, 2024, roč. 43, č. 2, ISSN: 0195-9298.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
TONAROVÁ, P.; SUTTNER, T.; HINTS, O.; LIANG, Y.; ZEMEK, M.; KUBAJKO, M.; ZIKMUND, T.; KAISER, J.; KIDO, E. Late Ordovician scolecodonts and chitinozoans from the Pin Valley in Spiti, Himachal Pradesh, northern India. ACTA PALAEONTOLOGICA POLONICA, 2024, roč. 69, č. 2, s. 199-215. ISSN: 1732-2421.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
2023
ZEMEK, M.; ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; OMOTE, K.; TAKEDA, Y.; OBERTA, P.; KAISER, J. Automatic marker-free estimation methods for the axis of rotation in sub-micron X-ray computed tomography. Tomography of Materials and Structures, 2023, roč. 1, č. March 2023, s. 1-17. ISSN: 2949-673X.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
2022
ZEMEK, M.; ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; OBERTA, P.; KAISER, J. On the precision of rotation axis estimation in Computed Tomography. Grenoble: 2022. s. 1 (1 s.). Detail | WWW
ZEMEK, M. Flexible Generation of Prior Images for Metal Artifact Reduction in Industrial Computed Tomography. e-Journal of Nondestructive Testing. 2022.Detail
GAJDOŠOVÁ, V.; STRACHOTA, B.; STRACHOTA, A.; MICHÁLKOVÁ, D.;KREJČÍKOVÁ, S.; FULIN, P.; NYC, O.; BŘÍNEK, A.; ZEMEK, M.; ŠLOUF, M. Biodegradable Thermoplastic Starch/Polycaprolactone Blends with Co-Continuous Morphology Suitable for Local Release of Antibiotics. Materials, 2022, roč. 15, č. 3, s. 1-22. ISSN: 1996-1944.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
ZEMEK, M.; ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; KAISER, J. Flexible Generation of Prior Images for Metal Artifact Reduction in Industrial Computed Tomography. 11th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT) 2022, 8-11 Feb, Wels, Austria. Wels: NDT.net, 2022. s. 1-7. Detail | WWW
2021
JAQUES, V.; ZEMEK, M.; ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; OŽVOLDÍK, D.; KAISER, J. X-ray high resolution computed tomography for cultural heritage material micro-inspection. In PROCEEDINGS VOLUME 11784 SPIE OPTICAL METROLOGY | 21-26 JUNE 2021 Optics for Arts, Architecture, and Archaeology VIII. PROCEEDINGS OF SPIE. Online: SPIE, 2021. s. 1-8. ISSN: 1996-756X.Detail | WWW
JAQUES, V.; DU PLESSIS, A.; ZEMEK, M.; ŠALPLACHTA, J.; ŠTUBIANOVÁ, Z.; ZIKMUND, T.; KAISER, J. Review of porosity uncertainty estimation methods in computed tomography dataset. Measurement Science and Technology, 2021, roč. 32, č. 8, s. 1-17. ISSN: 0957-0233.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
JAQUES, V.; ZEMEK, M.; ŠALPLACHTA, J.; OŽVOLDÍK, D.; ZIKMUND, T.; KAISER, J. X-RAY NANO-CT FOR PAINTED MICRO-SAMPLES FROM PREPARATION TO PUBLICATION: An iintterrdiisciiplliinarry parrttiiciipattiive prrojjectt. 2021.Detail | WWW
ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; ZEMEK, M.; BŘÍNEK, A.; TAKEDA, Y.; OMOTE, K.; KAISER, J. Complete Ring Artifacts Reduction Procedure for Lab-Based X-ray Nano CT Systems. SENSORS, 2021, roč. 21, č. 1, s. 1-20. ISSN: 1424-8220.Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně
2020
ZEMEK, M.; BLAŽEK, P.; ŠRÁMEK, J.; ŠALPLACHTA, J.; ZIKMUND, T.; KLAPETEK, P.; TAKEDA, Y.; OMOTE, K.; KAISER, J. Voxel Size Calibration for High-resolution CT. The e-Journal of Nondestructive Testing. Wels: NDT.net, 2020. s. 1-8. ISBN: 1435-4934.Detail | WWW
Marek Zemek, Pavel Blažek, Jan Šrámek, Jakub Šalplachta, Tomáš Zikmund, Petr Klapetek, Yoshihiro Takeda, Kazuhiko Omote, Jozef Kaiser. Voxel Size Calibration for High-resolution CT. Wels: 2020.Detail
ZEMEK, M.; ŠALPLACHTA, J.; MÉZL, M. Method for Extending the Field of View for X-ray Computed Tomography with Submicron Resolution. Proceedings II of the 26th Conference STUDENT EEICT 2020. 1st. Brno: Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and, 2020. s. 64-67. ISBN: 978-80-214-5868-0.Detail | WWW
*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.