prof. doc. Ing.

Miroslav Kolíbal

Ph.D.

FSI, ÚFI – docent

+420 54114 2708
kolibal.m@fme.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

prof. doc. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D.

Publikace

  • 2024

    Zhang, ZH.; Zhou, LW.; Chen, ZX.; Jaros, A.; Kolíbal, M.; Bábor, P.; Zhang, QZ.; Yan, CL.; Qiao, RX.; Zhang, Q.; Zhang, T.; Wei, W.; Cui, Y.; Qiao, JS.; Liu, LW.; Bao, LH; Yang, HT.; Cheng, ZH.; Wang, YL.; Wang, EG.; Liu, Z.; Willinger, M.; Gao, HJ.; Liu, KH.; Ji, W.; Wang, ZJ. Layer-by-layer growth of bilayer graphene single-crystals enabled by proximity catalytic activity. Nano Today, 2024, roč. 59, č. 102482, ISSN: 1878-044X.
    Detail | WWW

    KUNDRÁT, V.; NOVÁK, L.; BUKVIŠOVÁ, K.; ZÁLEŠÁK, J.; KOLÍBALOVÁ, E.; ROSENTVEIG, R.; SREEDHARA, M.; SHALOM, H.; YADGAROV, L.; ZAK, A.; KOLÍBAL, M.; TENNE, R. Mechanism of WS2 Nanotube Formation Revealed by in Situ/ex Situ Imaging. ACS Nano, 2024, roč. 18, č. 19, s. 12284-12294. ISSN: 1936-0851.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2023

    BAKHSHIKHAH, M.; LIŠKA, J.; MIRDAMADI KHOUZANI, S.; ČERVINKA, O.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Improvement of photoluminescence quality of MoS2 monolayers by an atomic hydrogen beam. International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics. META. 2023. s. 1437-1438. ISSN: 2429-1390.
    Detail

    Wang, ZJ.; Kong, X.; Huang, YA.; Li, J.; Bao, LH.; Cao, KC.; Hu, YX.; Cai, J.; Wang, LF.; Chen, H.; Wu, YS.; Zhang, YW.; Pang, F.; Cheng, ZH.; Babor, P.; Kolibal, M.; Liu, ZK.; Chen, YL.; Zhang, Q.; Cui, Y.; Liu, KH.; Yang, HT.; Bao, XH.; Gao, HJ.; Liu, Z.; Ji, W.; Ding, F.; Willinger, MG. Conversion of chirality to twisting via sequential one-dimensional and two-dimensional growth of graphene spirals. Nature Materials, 2023, roč. 1, č. 1, s. 1-205. ISSN: 1476-4660.
    Detail | WWW

    UKROPCOVÁ, I.; DAO, R.; ŠTUBIAN, M.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; WILLINGER, M.; WANG, Z.; ZLÁMAL, J.; BÁBOR, P. Electron Tractor Beam: Deterministic Manipulation of Liquid Droplets on Solid Surfaces. Advanced Materials Interfaces, 2023, roč. 10, č. 2, ISSN: 2196-7350.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    LIŠKA, P.; MUSÁLEK, T.; ŠAMOŘIL, T.; KRATOCHVÍL, M.; MATULA, R.; HORÁK, M.; NEDVĚD, M.; URBAN, J.; PLANER, J.; ROVENSKÁ, K.; DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; KŘÁPEK, V.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Correlative Imaging of Individual CsPbBr3 Nanocrystals: Role of Isolated Grains in Photoluminescence of Perovskite Polycrystalline Thin Films. Journal of Physical Chemistry C (print), 2023, roč. 127, č. 25, s. 12404-12413. ISSN: 1932-7447.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    KUNDRÁT, V.; ROSENTVEIG, R.; BUKVIŠOVÁ, K.; CITTERBERG, D.; KOLÍBAL, M.; KEREN, S.; PINKAS, I.; YAFFE, O.; ZAK, A.; TENNE, R. Submillimeter-Long WS2 Nanotubes: The Pathway to Inorganic Buckypaper. Nano Letters, 2023, roč. 23, č. 22, s. 10259-10266. ISSN: 1530-6992.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    KACHTÍK, L.; CITTERBERG, D.; BUKVIŠOVÁ, K.; KEJÍK, L.; LIGMAJER, F.; KOVAŘÍK, M.; MUSÁLEK, T.; KRISHNAPPA, M.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M. Chiral Nanoparticle Chains on Inorganic Nanotube Templates. NANO LETTERS, 2023, roč. 23, č. 13, s. 6010-6017. ISSN: 1530-6984.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2022

    PEJCHAL, T.; BUKVIŠOVÁ, K.; VALLEJOS VARGAS, S.; CITTERBERG, D.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M. Ga interaction with ZnO surfaces: Diffusion and melt-back etching. Applied Surface Science, 2022, roč. 583, č. 1, s. 152475-152475. ISSN: 0169-4332.
    Detail | WWW

    Sreedhara, MB.; Bukvisova, K.; Khadiev, A.; Citterberg, D.; Cohen, H.; Balema, V.; Pathak, AK.; Novikov, D.; Leitus, G.; Kaplan-Ashiri, I.; Kolibal, M.; Enyashin, AN.; Houben, L.; Tenne, R. Nanotubes from the Misfit Layered Compound (SmS)(1.)19TaS2: Atomic Structure, Charge Transfer, and Electrical Properties. Chemistry of Materials, 2022, roč. 34, č. 4, s. 1838-1853. ISSN: 1520-5002.
    Detail | WWW

    ROTHMAN, A.; BUKVIŠOVÁ, K.; ITZHAK, N. R.; KAPLAN-ASHIRI, I.; KOSSOY, A. E.; SUI, X.; NOVÁK, L.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M.; JOSELEVICH, E. Real-Time Study of Surface-Guided Nanowire Growth by In Situ Scanning Electron Microscopy. ACS Nano, 2022, roč. 16, č. 11, s. 18757-18766. ISSN: 1936-0851.
    Detail | WWW

    ZHU, K.; MAHMOODI, M.; FAHIMI, Z.; XIAO, Y.; WANG, T.; BUKVIŠOVÁ, K.; KOLÍBAL, M.; ROLDÁN, J.; PEREZ, D.; AGUIRRE, F.; LANZA, M. Memristors with Initial Low-Resistive State for Efficient Neuromorphic Systems. Advanced Intelligent Systems, 2022, roč. 4, č. 3, s. 2200001-220001. ISSN: 2640-4567.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2021

    KRATOCHVÍL, M.; MUSÁLEK, T.; KOLÍBAL, M.; WEITER, M. Cesium halide perovskite as a material for scintillator detectors. Studentská odborná konference CHEMIE JE ŽIVOT 2021 Sborník abstraktů. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta chemická, Purkyňova 464/118, 612 00 Brno, 2021. s. 86-87. ISBN: 978-80-214-6002-7.
    Detail | WWW

    KRATOCHVÍL, M.; MUSÁLEK, T.; KOLÍBAL, M.; WEITER, M. Cesium perovskite as scintillator for high-energy radiation detection. 2021. s. 155 ( s.)
    Detail | WWW

    NAZZARI, D., GENZER, J., RITTER, V., BETHGE, O., BERTAGNOLLI, E., RAMER, G., LENDL, B., WATANABE, K., TANIGUCHI, T., RURALI, R., KOLÍBAL, M., LUGSTEIN, A. Highly Biaxially Strained Silicene on Au(111). Journal of Physical Chemistry C (web), 2021, roč. 125, č. 18, s. 9973-9980. ISSN: 1932-7455.
    Detail | WWW

    Backes, C., Bartus, S., Casiraghi, C., Ferrari, A., Kamali, A.R., Kolíbal, M., Kumar, V., Molle, A., Oyarzun, A., Palermo, V., Sengupta, A., Silvestri, A., Zhang, H. Applications in opto-electronics: general discussion. Faraday Discussions of the Chemical Society, 2021, roč. 227, č. 0, s. 184-188. ISSN: 1359-6640.
    Detail | WWW

    Backes, C., Bianco, A., Casiraghi, C., Galembeck, F., Gupta, R.K., Hersam, M.C., Kamali, A.R., Kolíbal, M., Kolosov, V., Kumar, V., Lee, W. H., Martsinovich, N., Melchionna, M., Mullen, K., Oyarzun, A., Palermo, V., Prato, M., Samori, P., Sampath, S., Silvestri, A., Sirbu, D., Sui, R.H., Turchanin, A., Wetzl, C., Wright, I.A., Xia, Z.Y., Zhuang, X.D. 2D materials production and generation of functional inks: general discussion. Faraday Discussions of the Chemical Society, 2021, roč. 227, č. 0, s. 141-162. ISSN: 1359-6640.
    Detail | WWW

  • 2020

    WANG, T.; SHI, Y.; PUGLISI, F. M.; CHEN, S.; ZHU, K.; ZOU, Y.; LI, X.; JING, X.; HAN, T.; GUO, B.; BUKVIŠOVÁ, K.; KACHTÍK, L.; KOLÍBAL, M.; WEN, CH.; LANZA, M. Electroforming in Metal-Oxide Memristive Synapses. ACS applied materials & interfaces, 2020, roč. 12, č. 10, s. 11806-11814. ISSN: 1944-8252.
    Detail | WWW

    WANG, Y.; ŠIKOLA, T.; KOLÍBAL, M. Collector Droplet Behavior during Formation of Nanowire Junctions. J PHYS CHEM LETT, 2020, roč. 11, č. 16, s. 6498-6504. ISSN: 1948-7185.
    Detail | WWW

  • 2019

    NOVÁK, T.; KOSTELNÍK, P.; KONEČNÝ, M.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Temperature effect on Al predose and AlN nucleation affecting the buffer layer performance for the GaN-on-Si based high-voltage devices. Japanese Journal of Applied Physics, 2019, roč. 58, č. SC, s. SC1018-1 (SC1018-9 s.)ISSN: 0021-4922.
    Detail | WWW

    KOLÍBAL, M.; BUKVIŠOVÁ, K.; KACHTÍK, L.; ZAK, A.; NOVÁK, L.; ŠIKOLA, T. Formation of Tungsten Oxide Nanowires by Electron-Beam-Enhanced Oxidation of WS2 Nanotubes and Platelets. Journal of Physical Chemistry C (print), 2019, roč. 123, č. 14, s. 9552-9559. ISSN: 1932-7447.
    Detail | WWW

  • 2018

    KOLÍBAL, M.; PEJCHAL, T.; MUSÁLEK, T.; ŠIKOLA, T. Catalyst–substrate interaction and growth delay in vapor–liquid–solid nanowire growth. NANOTECHNOLOGY, 2018, roč. 29, č. 20, s. 1-7. ISSN: 0957-4484.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2017

    JIANG, L.; XIAO, N.; WANG, B.; GRUSTAN-GUTIERREZ, E.; JING, X.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; LU, G.; WU, T.; WANG, H.; HUI, F.; SHI, Y.; SONG, B.; XIE, X.; LANZA, M. High-resolution characterization of hexagonal boron nitride coatings exposed to aqueous and air oxidative environments. Nano Research, 2017, roč. 10, č. 6, s. 2046-2055. ISSN: 1998-0000.
    Detail | WWW

  • 2016

    KOLÍBAL, M.; PEJCHAL, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. The Synergic Effect of Atomic Hydrogen Adsorption and Catalyst Spreading on Ge Nanowire Growth Orientation and Kinking. NANO LETTERS, 2016, roč. 16, č. 8, s. 4880-4886. ISSN: 1530-6984.
    Detail | WWW

    ELBADAWI, C.; TRAN, T.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; SCOTT, J.; CAI, Q.; LI, L.; TANIGUCHI, T.; WATANABE, K.; TOTH, M.; AHARONOVICH, I.; LOBO, C. Electron beam directed etching of hexagonal boron nitride. Nanoscale, 2016, roč. 8, č. 36, s. 16182-16186. ISSN: 2040-3372.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    KOLÍBAL, M.; NOVÁK, L.; SHANLEY, T.; TOTH, M.; ŠIKOLA, T. Silicon oxide nanowire growth mechanisms revealed by real-time electron microscopy. NANOSCALE, 2016, roč. 8, č. 1, s. 266-275. ISSN: 2040-3364.
    Detail | WWW

    DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Fotoluminiscence h- BN detekována pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 149-150. ISSN: 0447-6441.
    Detail

  • 2014

    KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Real-Time Observation of Collector Droplet Oscillations during Growth of Straight Nanowires. NANO LETTERS, 2014, roč. 14, č. 2, s. 1756-1761. ISSN: 1530-6984.
    Detail

    MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; VOBORNÝ, S.; BARTOŠÍK, M.; ŠIKOLA, T. Optimization of ion-atomic beam source for deposition of GaN ultrathin films. Review of Scientific Instruments, 2014, roč. 85, č. 8, s. 083302-1 (083302-5 s.)ISSN: 0034-6748.
    Detail

    LIGMAJER, F.; DRUCKMÜLLEROVÁ, Z.; MĚCH, R.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Tvorba uspořádaných souborů kovových nanočástic na polovodičových substrátech a jejich charakterizace pomocí spektroskopické elipsometrie. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 178-180. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    DRUCKMÜLLEROVÁ, Z.; KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Toward Site-Specific Dopant Contrast in Scanning Electron Microscopy. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 2014, roč. 20, č. 4, s. 1312-1317. ISSN: 1431-9276.
    Detail

    GLAJC, P.; ZLÁMAL, J.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Návrh iontového zdroje se sedlovým polem a žhavenou katodou. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 181-183. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2012

    KOLÍBAL, M.; KONEČNÝ, M.; LIGMAJER, F.; ŠKODA, D.; VYSTAVĚL, T.; ZLÁMAL, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Guided Assembly of Gold Colloidal Nanoparticles on Silicon Substrates Prepatterned by Charged Particle Beams. ACS Nano, 2012, roč. 6, č. 11, s. 10098-10106. ISSN: 1936- 0851.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NOVÁK, L.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Controlled faceting in (110) germanium nanowire growth by switching between vapor-liquid-solid and vapor-solid- solid growth. Applied Physics Letters, 2012, roč. 100, č. 20, s. 203102- 1 (203102-4 s.)ISSN: 0003- 6951.
    Detail

  • 2011

    MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam- assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, roč. 82, č. 8, s. 083302- 1 (083302-7 s.)ISSN: 0034- 6748.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; VYSTAVĚL, T.; NOVÁK, L.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. In-situ observation of <110> oriented Ge nanowire growth and associated collector droplet behavior. Applied Physics Letters, 2011, roč. 99, č. 14, s. 143113- 1 (143113-3 s.)ISSN: 0003- 6951.
    Detail

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF- LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, roč. 269, č. 3, s. 369-373. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; MATLOCHA, T.; VYSTAVĚL, T.; ŠIKOLA, T. Low energy focused ion beam milling of silicon and germanium nanostructures. NANOTECHNOLOGY, 2011, roč. 22, č. 10, s. 105304- 1 (105304-8 s.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

  • 2010

    KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; BARTOŠÍK, M.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Stability of hydrogen- terminated silicon surface under ambient atmosphere. Applied Surface Science, 2010, roč. 256, č. 11, s. 3423-2426. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

    ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, roč. 256, č. 11, s. 3636-3641. ISSN: 0169- 4332.
    Detail

    MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, roč. 604, č. 21- 22, s. 1906-1911. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

  • 2009

    BARTOŠÍK, M.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Selective growth of metallic nanostructures on surfaces patterned by AFM local anodic oxidation. JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2009, roč. 9, č. 10, s. 5887-5890. ISSN: 1533- 4880.
    Detail

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 209-214. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ČECHAL, J.; MATLOCHA, T.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Characterization of oxidized gallium droplets on silicon surface: an ellipsoidal droplet shape model for angle resolved X- ray photoelectron spectroscopy analysis. Thin Solid Films, 2009, roč. 517, č. 6, s. 1928-1934. ISSN: 0040- 6090.
    Detail

    ČECHAL, J.; TOMANEC, O.; ŠKODA, D.; KOŇÁKOVÁ, K.; HRNČÍŘ, T.; MACH, J.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film. Journal of Aplied Physics, 2009, roč. 105, č. 8, s. 084314-1 (084314-6 s.)ISSN: 0021-8979.
    Detail

  • 2008

    MACH, J.; ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Atomic hydrogen induced gallium nanocluster formation on the Si(100) surface. Surface Science, 2008, roč. 602, č. 10, s. 1898-1902. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; ZEPPENFELD, P.; BAUER, P.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T. Quantitative analysis of ultra thin layer growth by time-of- flight low energy ion scattering. Applied Physics Letters, 2008, roč. 92, č. 1, s. 011929- 1 (011929-3 s.)ISSN: 0003-6951.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; ČECHAL, T.; KOLÍBALOVÁ, E.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Self-limiting cyclic growth of gallium droplets on Si(111). NANOTECHNOLOGY, 2008, roč. 19, č. 46, s. 475606- 1 (475606-5 s.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

  • 2007

    KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, roč. 265, č. 2, s. 569-575. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

    PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF- LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, roč. 111, č. 3, s. 335-341. ISSN: 0587- 4246.
    Detail

    ČECHAL, J.; KOLÍBAL, M.; KOSTELNÍK, P.; ŠIKOLA, T. Gallium structure on the Si(111)-(7 x 7) surface: influence of Ga coverage and temperature. Journal of Physics: Condensed Matter, 2007, roč. 19, č. 1, s. 016011 ( s.)ISSN: 0953- 8984.
    Detail

  • 2006

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; KOSTELNÍK, P.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by ToF- LEIS. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2006, roč. 249, č. 1- 2, s. 318-321. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

  • 2005

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by TOF- LEIS. 1. Seville: 2005.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005. s. 191-191.
    Detail

    DRAXLER, M.; MARKIN, S.; KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T.; BAUER, P. High resolution time-of- flight low energy ion scattering. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2005, roč. 230, č. 0, s. 398-401. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

  • 2004

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 262 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    VOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 270 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, roč. 459, č. 1- 2, s. 17 ( s.)ISSN: 0040- 6090.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). Surface Science, 2004, roč. 566- 568, č. 9, s. 885 ( s.)ISSN: 0039- 6028.
    Detail

    KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF- LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 230 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
    Detail

  • 2003

    KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. s. 0 ( s.)
    Detail

    BÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T. Application of a simple imaging system in SIMS and TOF LEIS. In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. s. 0 ( s.)
    Detail

    VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 45 ( s.)
    Detail

    PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF LEIS. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 133 ( s.)
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.