Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail předmětu
FSI-TCOAk. rok: 2011/2012
Kurz se zabývá problematikou optiky nabitých částic ve fokusačních a vychylovacích systémech a spektrometrech. Jsou charakterizovány zdroje elektronů a iontů, optické prvky a systémy přístrojů a zařízení využívající svazky nabitých částic.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Nabízen zahraničním studentům
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Základní literatura
Doporučená literatura
Zařazení předmětu ve studijních plánech
obor M-PMO , 2 ročník, zimní semestr, povinnýobor M-FIN , 2 ročník, zimní semestr, povinný
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova
Cvičení