Detail předmětu

Metody strukturní analýzy I

FSI-WA1Ak. rok: 2013/2014

Světelná mikroskopie (metody, principy, aplikace), obrazová analýza, technologie.Interakce elektronů s hmotou. Transmisní elektronová mikroskopie a difrakce. Vysokonapěťový TEM. Mikroskopie s vysokým rozlišením. Rastrovací elektronová mikroskopie. Environmentální EM.
Lokální analýza v TEM a REM (s využitím buzeného rtg. záření, augerových elektronů, spektroskopie elektronových ztrát). Rtg. difraktometrie.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

Garant předmětu

prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.

Zajišťuje ústav

Ústav materiálových věd a inženýrství (ÚMVI)

Výsledky učení předmětu

Znalost principů a aplikační možnosti základních metod strukturní
a fázové analýzy, včetně postupů odběru a přípravy vzorků.

Prerekvizity

Studium experimentálních metod používaných pro analýzu struktury (morfologie a fázového složení) materiálů vyžaduje základní znalosti fyziky a matematiky na úrovni poskytované v průběhu bakalářského studia, a také znalosti materiálových věd a inženýrství - alespoň na úrovni absolventa bakalářského studia strojního inženýrství.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny. Výuka je doplněna laboratorním cvičením.

Způsob a kritéria hodnocení

Zkouška je písemná a ústní,pro udělení zápočtu je nezbytné vypracování zadaných okruhů problémů.

Učební cíle

Cílem kurzu je poskytnout studentům přehled a v menší míře
i teoretické znalosti a princip všech základních metod pro
strukturní a fázovou analýzu (fyzikální principy metod, parametry
přístrojů,aplikační šíře metod atd), včetně přípravy vzorků. Na
praktických aplikacích metod získají studenti základní přehled o
metodických postupech při řešení problémů a analýze výsledků.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Povinná je účast ve cvičeních,případná absence je řešena individuelně,obvykle náhradním zadáním.

Základní literatura

GOLDSTEIN, I. Joseph. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer, 2003, xix, 689 s. : il. + 1 CD-ROM. ISBN 0-306-47292-9. (EN)

Doporučená literatura

FLEWITT, P. E. J a Robert K WILD. Physical methods for materials characterisation. Bristol: Institute of Physics Publishing, 1994, xvi, 517 p. : il. ISBN 0-7503-0320-4. (EN)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2A-P magisterský navazující

    obor M-FIN , 1 ročník, letní semestr, povinný
    obor M-MTI , 1 ročník, letní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

39 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.

Osnova

1. Úvod do strukturní a fázové analýzy(metody zobrazovací a analytické)
2. Světelná mikroskopoie(metody zvýšení fázového kontrastu)
3. Kvantitativní hodnocení fází,tvrdost a mikrotvrdost
4. Úvod do elektronové mikroskopie
5. Strukturní faktor,reciproká mřížka,elektronová difrakce
6. Mikroskopie s vysokým rozlišením,nekonvenční zdroje elektronů,difrakce kovergentním svazkem elektronů
7. Vysokonapěťová transmisní elektronová mikroskopie,rastrovací elektronová mikroskopie
8. Environmentální rastrovací elektron.mikroskopie,úvod k analytickým metodám
9. Energiově a vlnově dispersní spektrometry(EDS a VDS)-obecné charakteristiky
10. Analýza s využitím energiových ztrát elektronů(EELS),další možnosti analýzy v elektron.mikroskopii
11. Problémy s aplikací EDS a VDS,ZAF korekce,analýza submikron.objemů
12. Obrazová analýza ve světelné a elektronové mikroskopii
13. Difrakční metody v transmisní a rastrovací elektron. mikroskopii. Rtg. difrakční analýza