Detail předmětu
Smart and Semiconductor Sensors
FEKT-NIPSAk. rok: 2014/2015
Předmět se věnuje problematice nejpoužívanějších principů polovodičových snímačů, jejich charakteristické konstrukci, základním technologickým postupům při výrobě, typickými vlastnostmi, parametry, použitím, aplikacemi a omezeními. Důraz je také kladen na seznámení s obvody pro zpracování a úpravu výstupních signálů z těchto snímačů, požadavky kladené na inteligentní snímače (např. metody autodiagnostiky, autokalibrace snímačů) a MEMS snímače. Studenti v rámci laboratorních cvičení získají praktické zkušenosti s vybraným typem polovodičového / inteligentního snímače, čímž si prohloubí znalosti o použití senzorů fyzikálních (neelektrických) veličin.
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Prerekvizity
Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody
Způsob a kritéria hodnocení
Až 60 bodů za písemnou zkoušku (pro úspěšné absolvování písemné zkoušky je nutné získat minimálně 25 bodů).
Osnovy výuky
Základní technologické postupy při výrobě snímačů, objemové a povrchové mikroobrábění
Základní fyzikální jevy využívané u mikroelektronických polovodičových snímačů
Snímače mechanických veličin
Snímače mechanických veličin
Snímače magnetických veličin
Snímače radiačních veličin
Snímače radiačních veličin
Snímače tepelných veličin
Snímače chemických veličin
Biosenzory
Koncepce inteligentních snímačů - čidlo, zpracování signálu, autodiagnostika, autokalibrace, komunikační standardy
Příklady typických aplikací ve vybraných systémech
Biosnímače
Koncepce inteligentních snímačů - čidlo, elektronické zpracování signálu, komunikační rozhraní, diagnostika, automatická kalibrace
Příklady typických aplikací ve vybraných systémech.
Učební cíle
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky
Základní literatura
SZE, S.M.: Semiconductor Sensors. John Wiley & Sons, New York, 1994 (EN)
Doporučená literatura
Kovacs, T.A.: Micromachined Transducers Sourcebook. McGraw-Hill, New York, 1998 (EN)
Zařazení předmětu ve studijních plánech
Typ (způsob) výuky
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova
Základní technologické postupy při výrobě snímačů, objemové a povrchové mikroobrábění
Základní fyzikální jevy využívané u mikroelektronických polovodičových snímačů
Snímače mechanických veličin
Snímače mechanických veličin
Snímače magnetických veličin
Snímače radiačních veličin
Snímače radiačních veličin
Snímače tepelných veličin
Snímače chemických veličin
Biosnímače
Koncepce inteligentních snímačů - čidlo, elektronické zpracování signálu, komunikační rozhraní, diagnostika, automatická kalibrace
Příklady typických aplikací ve vybraných systémech.
Laboratorní cvičení
Vyučující / Lektor
Osnova