Detail předmětu

Teorie měření, měřicí techniky a technické diagnostiky

FSI-9TTDAk. rok: 2022/2023

Obsahem kurzu je seznámení účastníků s pokročilými metodami a prostředky měření s nanometrovým rozlišením.

Jazyk výuky

čeština

Výsledky učení předmětu

Pochopení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty měřicích metod, senzorů a funkce meřicích zařízení.

Prerekvizity

Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II a Metrologická fyzika.

Plánované vzdělávací činnosti a výukové metody

Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny.

Způsob a kritéria hodnocení

Zkouška skládající se z ústní a písemné části.

Učební cíle

Vyložit fyzikální principy vybraných měřicích metod a činnosti meřicích přístrojů a zařízení.

Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky

Účast na všech prvcích výuky.

Základní literatura

BOX, G.E.P., HUNTER, W.G., HUNTER, J.S. Statistics for Experiments-an Introduction to Design, Data Analysis and Model Building, Wiley 1978 (EN)
DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990. (EN)
Normy: Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii.. ČSN 01 0115
ORNATSKIJ, P.P.: Teoretičeskije osnovy informacionno-izměritělnoj techniki. Kijev: Vyšča škola, 1976.
REIMER, L, Scanning Electron Microscopy (2nd ed.), Springer,1998 (EN)
RIPKA, P.; TIPEK, A. Master Book of Sensors, part A, part B, Czech Technical University, 2003 (EN)
WIESENDAGER. R., GUNTHERODT. J.H.: Scanning Tuneling Microscopy II, Springer 1995 (EN)
WILIAMS, D. B., CARTER, C. B. Transmission Electron Microscopy (2nd ed.), Springer, 2009 (EN)

Doporučená literatura

DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990. (EN)
JENČÍK, J., KUHN, L. a další: Technická měření ve strojírenství.. Praha: SNTL, 1982.
Normy: Vyjadřování nejistoty při měření.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program D-APM-K doktorský 1 ročník, zimní semestr, doporučený kurs
  • Program D-APM-P doktorský 1 ročník, zimní semestr, doporučený kurs

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

20 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

Obecné pojmy a teorie. Statistika měření a zpracování chyb: rozdělení náhodných veličin: normální rozdělení, rovnoměrné rozdělení. Zákon přenosu chyb. Zpracování výsledků přímých a nepřímých měření.

Senzory: senzory obecná klasifikace. Kapacitní senzory. Indukční a indukčnostní senzory.

Diagnosticko-zobrazovací techniky: rastrovací elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, rastrovací tunelová mikroskopie.