Detail předmětu

Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie

FSI-TM0Ak. rok: 2023/2024

Předmět se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

2

Garant předmětu

Ing. Tomáš Vystavěl

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Vstupní znalosti

Znalosti elektromagnetismu na úrovni učebnice HALLIDAY, D. - RESNICK, R. - WALKER, J.: Fyzika, VUTIUM, Brno 2001.

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
Účast na přednáškách.

Učební cíle

Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.
Prohloubení znalostí o konstrukci elektronového mikroskopu a funkci jednotlivých jeho částí.

Základní literatura

GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy :physics of image formation and microanalysis. Berlin, 1985. 457 s. ISBN 3-540-13530-8
REIMER, Ludwig. Transmission Electron Microscopy :Physics of Image Formation and Microanalysis. 3. ed. Berlin, 1993. 545 s. ISBN 3-540-56849-2

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program B-FIN-P bakalářský 3 ročník, zimní semestr, volitelný
  • Program N-FIN-P magisterský navazující 1 ročník, zimní semestr, volitelný
    2 ročník, zimní semestr, volitelný
  • Program N-PMO-P magisterský navazující 2 ročník, zimní semestr, volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Ing. Tomáš Vystavěl

Osnova

Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
2. Použití elektronové mikroskopie
3. Elektronová a iontová optika
4. Elektronové a iontové zdroje
5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
7. Vakuový systém
8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
9. Speciální stolky preparátu
10. Mikroskop jako systém
11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
13. Mikroskop jako laboratoř
14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
15. Praktická ukázka