Hlavní cíl tohoto kursu spočívá ve vybudování teoretických a experimentálních základů pro diagnostiku nanostruktur připravovaných v rámci CEITEC laboratoří. Výklad bude koncipován tak, aby byly popsány a vysvětleny základní fyzikální principy diagnostiky jedno- a dvoudimenzionálních nanostruktur, které jsou užívané k určování morfologických, chemických a strukturních vlastností, jakož i jejich funkcionálních vlastností. Budou diskutovány různé módy rastrovací sondové mikroskopie, elektronová a iontová mikroskopie (TEM, SEM apod.), optické spektroskopie a jejich vzájemné kombinace. Většina těchto analytických metod bude představena v rámci praktických názorných ukázek měření na přístrojích pořízených v rámci projektu CEITEC.