čeština

Pochopení principů fyzikálních a funkčních diagnostických metod. Konkrétní znalosti o metodách funkční diagnostiky. Sestavení jednoduchých testů analogových a digitálních obvodů.

Jsou požadovány znalosti na úrovni středoškolského studia.

Metody vyučování závisejí na způsobu výuky a jsou popsány článkem 7 Studijního a zkušebního řádu VUT.

průběžný písemný test ... 30 bodů
závěrečná zkouška ... 70 bodů

Struktura oboru a základní pojmy. Základní pojmy technické diagnostiky.
Diagnostický systém. Diagnostické prostředky. Diagnostický objekt. Diagnostická úloha. Kategorizace diagnostických objektů. Diagnostická veličina. Diagnostika za provozu a mimo provoz. Fáze nasazení technické diagnostiky. Technická diagnostika fáze předmontážní. Technická diagnostika při oživování a kontrole finálního výrobku. Technická diagnostika v servisní praxi, při periodických kontrolách a trvale aplikovaná.
Typy poruch, degradační mechanismy a vznik poruch. Názvosloví poruch. Poruchy pasivních a aktivních prvků elektronických obvodů. Poruchy integrovaných obvodů. Příčiny poruch v propojovacím systému. Typy poruch neoživeného zařízení. Počet jednoduchých a vícenásobných poruch v kombinační síti. Poruchy PLA. Poruchy obvodů CMOS.
Fyzikální metody technické diagnostiky. Funkční metody technické diagnostiky. Matematické modely diagnostických objektů. Diagnostické testy. Formy diagnostiky. Periodická diagnostika. Průběžná diagnostika. Zobrazení diagnostického testu pomocí tabulky, postup při testování. Detekční testování. Lokalizační testování. Grafické zobrazení testu pomocí diagnostického stromu. Sestavení množiny poruch, modely poruch, sestavení diagnostických testů. Vícenásobné poruchy. Sestavování testů.
Aplikace metod funkční diagnostiky na objekty s analogově proměnnými veličinami. Funkční blokové schéma a logické schéma diagnostického objektu s analogovými signály. Řešení diagnostických úloh pomocí orientovaných grafů příčina-následek u objektů s analogovými signály.
Diagnostika a testování digitálních obvodů. Poruchy v logických obvodech. Diagnostika poruch v logických systémech. Generace strukturních testů. Funkční testy. Generování testů pomocí boolovské diference. Použití tabulek úplných testů. Náhodné a pseudonáhodné testy. Testování sekvenčních obvodů. Identifikační metody. Generování testů pro obvody popsané jazykem vyšší úrovně. Strukturní metody.
Automatizace generování testů. Interakční systémy. Systémy AGT. Kontrola testů. Minimalizace testů. Komprese diagnostických dat. Kompresní metody založené na čítání. Příznaková analýza. Slovníky poruch.
Návrh pro snadnou diagnostiku. Vývoj metod návrhu pro snadnou diagnostiku. Strukturovaný návrh. Heuristické metody návrhu. Vestavěné diagnostické prostředky. Diagnostické testy zapsané do paměti. Autonomní testy generované v reálném čase. Generování pseudotriviálních testů. Zabezpečení proti poruchám. Bezpečnost systému. Obvody bezpečné proti poruchám. Úplně samočinně kontrolované obvody. Ostatní metody zabezpečení.
Testování logických IO. Požadavky kladené na testy IO. Testování pamětí. Adaptéry osobních počítačů a jejich testování. Testování mikroprocesorů a mikropočítačů.
Diagnostika a testování analogových obvodů. Diagnostika a testování analogových a analogově-digitálních integrovaných obvodů. Testovatelnost při monitorování napájecího proudu. Chybové pokrytí pro standardní buňky. Proudové monitory. Klasifikace proudových monitorů. Vymezení aplikační oblasti monitoru. Vestavěný proudový monitor. Vnější proudový monitor.
Testery elektronických systémů. Nejdůležitější funkční bloky testerů. Jazyky pro zápis testů. Testery IO. Testery neosazených desek a kabeláže. Testery osazených desek. Konektorové zkoušeče. Použití řízené sondy. Testery typu "In Circuit" (vnitroobvodové testery).

Seznámit studenty s metodami diagnostiky elektronických systémů.

počítačová cvičení

Bushnell M.L., Agrawal V. D.: Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, Boston, 2000 (EN)
Hurst L.S.: VLSI testing, The Institution of EE, London, 1998 (EN)
Mourad S.: Principles of Testing Electronic Systems, John Wiley & Sons Inc., New York, 2000 (EN)

Kwok K.N.: Complete Guide To Semiconductor Devices, Mc Graw-Hill Inc., 1995 (EN)
Uyemura J.P.: Introduction to VLSI Circuits and Systems, John Wiley & Sons, 2002 (EN)