GP102/05/P199

čeština

Vaněk Jiří, doc. Ing., Ph.D. - hlavní řešitel

Ústav elektrotechnologie
- odpovědné pracoviště (9.4.2004 - nezadáno)
Ústav elektrotechnologie
- příjemce (9.4.2004 - nezadáno)

VANĚK, J.; JANDOVÁ, K.; FOŘT, T.: LBIC-LBIV; Pracoviště pro testování solárních článků LBIC s použitím různých vlnových délek. U4-127. (funkční vzorek)
Detail

VANĚK, J.; JANDOVÁ, K.: LIBC; Pracoviště pro měření světelné emise z polovodičů procházejícím proudem. Využití také Solartec s.r.o. U4-127. (funkční vzorek)
Detail

VANĚK, J. Průběžná závěrečná zpráva grantu GAČR 102/05/P199: Nové metody nedestruktivního testování kvality kontaktů fotovoltaických článků. 2007.
Detail

VANĚK, J., CHOBOLA, Z. Low-frequency noise measurements used for semiconductor light active devices. Proceedings of SPIE, 2005, vol. 2005, no. 5844, p. 86 ( p.)ISSN: 0277-786X.
Detail

CHOBOLA, Z., JURÁNKOVÁ, V., VANĚK, J. Noise spectroscopy measurement of 2.3 microm CW GaSb based laser diodes. Elektronika, 2005, vol. 2005, no. 1, p. 70 ( p.)ISSN: 0033-2089.
Detail

CHOBOLA, Z.; VANĚK, J.; KAZELLE, J. Noise and I-V Characteristic as Characterization Tools for GaSb base Laser Diodes. AIP conference proceedings, 2005, vol. 2005, no. 780, p. 721 ( p.)ISSN: 0094-243X.
Detail

CHOBOLA, Z.; JURÁNKOVÁ, V.; VANĚK, J.; BAŘINKA, R. Noise spectroscopy of new silicon solar cells with double-sided texture. Proceedings of SPIE, 2007, vol. 2007, no. 6600, p. 1M-1 (1M-8 p.)ISSN: 0277-786X.
Detail

VANĚK, J.; KOKTAVÝ, P.; JANDOVÁ, K.; SADOVSKÝ, P. Usage of micro-plasma signal noise for solar cells diagnostic. Proceedings of SPIE, 2007, vol. 2007, no. 6600, p. 17-1 (17-8 p.)ISSN: 0277-786X.
Detail

VESELÝ, A.; VANĚK, J.; DOLENSKÝ, J. Using backlighting in the photoluminescence imaging. In Advanced Batteries Accumulators and Fuel Cells,10th ABAF. Brno: Akademické centrum GEPARD International, s.r.o., 2009. p. 134-137. ISBN: 978-80-214-3943-6.
Detail

VANĚK, J.; CHOBOLA, Z.; JURÁNKOVÁ, V. Noise and I-V Characteristic as Characterisation Tool for PiN Amorphous Silicon Solar Cells. In 5th Workshop NDT 2007. Brno: BUT, 2007. p. 28-33. ISBN: 978-80-7204-549-5.
Detail

CHOBOLA, Z.; JURÁNKOVÁ, V.; VANĚK, J. Noise and I-V Characteristic as a Characterisation Tool for Silicon Solar Cells With Double-Sided Texture. In 5th Workshop NDT 2007. Brno: BUT, 2007. p. 28-33. ISBN: 978-80-7204-549-5.
Detail

VANĚK, J.; JANDOVÁ, K.; FOŘT, T. Projection of Solar Cell Back Side Contact Structure to the Front LBIC Image. In New trends in physics NTF 2007. Brno: Ing. Zdenek Novotný CSc., 2007. p. 154-157. ISBN: 978-80-7355-078-3.
Detail

JANDOVÁ, K.; VANĚK, J.; DOLENSKÝ, J.; BAŘINKA, R. Development of Diagnostic Method Applied on Solar Cells. In New trends in physics NTF 2007. Brno: Ing. Zdenek Novotný CSc., 2007. p. 57-60. ISBN: 978-80-7355-078-3.
Detail

CHOBOLA, Z.; JURÁNKOVÁ, V.; VANĚK, J.; BAŘINKA, R. Noise Spectroscopy as a Diagnostic Tool for Non-Destructive Testing of New Silicon Solar Cells With Double-Sided Texture. In New trends in physics NTF 2007. Brno: Ing. Zdenek Novotný CSc., 2007. p. 51-56. ISBN: 978-80-7355-078-3.
Detail

VANĚK, J.; KOKTAVÝ, P.; JANDOVÁ, K.; KAZELLE, J. Micro-Plasma Noise Signal Used in Solar Cells Diagnostic. In 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference. Milan, Italy: WIP-Renewable Energies, 2007. p. 242-245. ISBN: 3-936338-22-1.
Detail

DOLENSKÝ, J. ELECTRIC PROPERTIES CHARACTERIZATION OF SILICON MONO CRYSTALLINE SOLAR CELLS. In Proceedings of the 13th conference Student EEICT 2007. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., Ondráčkova 105, Brno, 2007. s. 133-135. ISBN: 978-80-214-3408-0.
Detail

DOLENSKÝ, J.; JANDOVÁ, K.; VANĚK, J.; KAZELLE, J. Charakterizace elektrických vlastností monokrystalických křemíkových solárních článků. In Elektrotechnika a informatika 2007. Plzeň: 2007. s. 13-16. ISBN: 978-80-7043-572-4.
Detail

VANĚK, J.; KAZELLE, J.; CHOBOLA, Z.; JURÁNKOVÁ, V. Passivation quality test by noise method. In Electronic Devices and Systems. Brno: Ing.Zdeněk Novotný,CSc., 2006. p. 175-178. ISBN: 80-214-3246-2.
Detail

VANĚK, J.; CHOBOLA, Z.; KAZELLE, J. Noise spectroscopy used in Si:H amorphous solar cells diagnostic. In Proc. of the International Conference held in Dresden, Germany. Dresden, Germany: WIP-Renewable Energies, 2006. p. 1620-1622. ISBN: 3-936338-20-5.
Detail

VANĚK, J., KAZELLE, J., CHOBOLA, Z., JURÁNKOVÁ, V. Passivation quality test by noise method. In EDS06. Brno: VUT v Brně, 2006. p. 175 ( p.)ISBN: 80-214-3246-2.
Detail

Odpovědnost: Vaněk Jiří, doc. Ing., Ph.D.