Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
CHOBOLA, Z. VANĚK, J. KAZELLE, J.
Originální název
Noise and I-V Characteristic as Characterization Tools for GaSb base Laser Diodes
Typ
článek v časopise - ostatní, Jost
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
Transport and noise characteristic of forward biased 2.3 microm CW GaSb laser diodes were measured in order to evaluate new technology. From the measurement results it follows hat noise spectral density related to defect is of 1/f type and its magnitude was found to be proportional to the squere of DC forwrd current at low infection levels.
Klíčová slova v angličtině
Noise, Laser Diodes
Autoři
CHOBOLA, Z.; VANĚK, J.; KAZELLE, J.
Rok RIV
2005
Vydáno
19. 9. 2005
Místo
Spain
ISSN
0094-243X
Periodikum
AIP conference proceedings
Ročník
Číslo
780
Stát
Spojené státy americké
Strany od
721
Strany do
724
Strany počet
4
BibTex
@article{BUT45527, author="Zdeněk {Chobola} and Jiří {Vaněk} and Jiří {Kazelle}", title="Noise and I-V Characteristic as Characterization Tools for GaSb base Laser Diodes", journal="AIP conference proceedings", year="2005", volume="2005", number="780", pages="4", issn="0094-243X" }