V souvislosti s pokrokem v oblasti měření pomocí sondové rastrovací mikroskopie (SPM) jsou pro různé aplikace kladeny stále vyšší nároky na samotné zařízení mikroskopu. Projekt se zabývá vývojem a rozšířením stávajícího mikroskopu rastrovací sondové mikroskopie (SPM) o možnosti měření bezkontaktní metodou AFM. Součástí vývoje je modifikace stávající elektroniky, používaného ovládacího programu GXSM a úprava designu mikroskopu. Provedené úpravy umožní pokročilá měření ncAFM, MFM, EFM a dalších.

FSI-J-13-2113

čeština

Šulc Dalibor, Ing., Ph.D. - hlavní řešitel
Nováček Zdeněk, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Pavera Michal, Ing., Ph.D. - spoluřešitel
Spousta Jiří, prof. RNDr., Ph.D. - spoluřešitel
Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - spoluřešitel
Wertheimer Pavel, Ing., Ph.D. - spoluřešitel

ÚFI-odbor fyziky povrchů a nanostruktur
- odpovědné pracoviště (1.1.1989 - nezadáno)
ÚFI-odbor fyziky povrchů a nanostruktur
- interní (1.1.2013 - 31.12.2013)
Fakulta strojního inženýrství
- příjemce (1.1.2013 - 31.12.2013)

ŠULC, D.; WERTHEIMER, P.; PAVERA, M.; NOVÁČEK, Z.; NEUMAN, J.; ŠIKOLA, T. Vývoj universálního zařízení pro rastrovací sondové mikroskopy. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6-7, s. 169-171. ISSN: 0447-6441.
Detail

Odpovědnost: Šulc Dalibor, Ing., Ph.D.